[发明专利]集成电路及其设计的方法及其设计系统在审
| 申请号: | 201810338818.2 | 申请日: | 2018-04-16 |
| 公开(公告)号: | CN109783833A | 公开(公告)日: | 2019-05-21 |
| 发明(设计)人: | 林彦宏;王中兴;侯元德 | 申请(专利权)人: | 台湾积体电路制造股份有限公司 |
| 主分类号: | G06F17/50 | 分类号: | G06F17/50 |
| 代理公司: | 南京正联知识产权代理有限公司 32243 | 代理人: | 顾伯兴 |
| 地址: | 中国台湾新竹科*** | 国省代码: | 中国台湾;71 |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 集成电路 设计系统 | ||
一种集成电路,包含具有第一高度的第一行,其中第一单元位于具有第一高度的第一行中。集成电路进一步包含具有第二高度的第二行,其中第一高度不是第二高度的整数倍数。第二单元位于具有第二高度的第二行中。
技术领域
本发明的实施例是有关于一种集成电路及其设计的方法及其设计系统。
背景技术
各种自动化工具用于辅助半导体设计师对准备制造的电路的最终布局采用期望电路的功能性设计。此工艺将电路的功能性描述转化成使用标准单元资料库(library)映射到单元的行中的布尔函数(Boolean function)。一旦映射,那么便执行合成以将结构设计转变成物理布局。
为了避免来自资料库的单元与共同电力轨(power rails)或其它设计规则对准的问题,使用来自单元资料库的标准化单元,所述标准化单元所具有的单元高度等于单元行的高度或标准单元高度的整数倍的单元高度。因此,通常早期就做出关于利用哪一单元高度来设计的决策,且对应于那一单元高度的单元资料库用于结构设计和合成工艺。
发明内容
根据一实施例,集成电路包括:多个单元,所述单元中的每一个包含配置成执行默认定义功能的组件;所述多个单元中的第一个,其定位于具有第一高度的第一行中;所述第一单元,其具有所述第一高度;所述多个单元中的第二个,其定位于具有第二高度的第二行中,其中所述第一高度不是所述第二高度的整数倍数;以及所述第二单元,其具有所述第二高度。
根据另一实施例,集成电路的设计方法包括:接收集成电路设计;确定具有第一高度的第一单元类型的最大可允许面积;确定所述第一单元类型的多个第一单元的总面积;将所述多个第一单元的所述总面积与所述第一单元类型的所述最大可允许面积进行比较;如果所述多个第一单元的所述总面积大于所述第一单元类型的所述最大可允许面积,那么所述第一单元中的一个便由具有小于所述第一高度的第二高度的第二单元类型的第二单元替换;其中由处理器执行所述方法的至少一个步骤。
根据又一实施例,集成电路的设计系统包括:单元数据库,其定义多个单元,所述单元中的每一个包含配置成执行默认定义功能的组件,所述多个单元包含具有第一高度的第一单元类型以及具有第二高度的第二单元类型,其中所述第一高度不是所述第二高度的整数倍数;处理器;计算机可读媒体,其可由所述处理器存取,所述计算机可读媒体存储在由所述处理器执行时实施方法的指令,所述方法包括:接收集成电路设计;基于功能性集成电路设计从所述单元数据库中选择所述第一单元类型的第一单元以及所述第二单元类型的第二单元;产生集成电路设计布局,所述集成电路设计布局包含具有所述第一高度的第一行,其中所述第一单元定位于所述第一行中;以及具有所述第二高度的第二行,其中所述第二单元定位于所述第二行中。
附图说明
当结合附图阅读时,从以下详细描述最好地理解本公开的各方面。应注意,根据行业中的标准惯例,各种特征未按比例绘制。实际上,为了论述清晰起见,可任意增大或减小各种特征的尺寸。
图1是说明根据一些实施例的实例处理系统的详情的方块图。
图2是说明根据一些实施例的实例集成电路设计方法的详情的工艺流程图。
图3是说明根据一些实施例的实例集成电路平面布置图的详情的方块图。
图4说明图3中所示的集成电路平面布置图,其进一步包含根据一些实施例的变化高度单元的实例。
图5是说明根据一些实施例的集成电路设计系统的其它详情的方块图。
图6是说明根据一些实施例的集成电路设计系统的其它详情的方块图。
图7是说明根据一些实施例的集成电路设计系统的其它详情的方块图。
图8是说明根据一些实施例的用于确定集成电路平面布置图的行的数量的实例工艺的工艺流程图。
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