[发明专利]波形数据处理装置及波形数据处理方法

说明书

本发明是一种波形数据处理装置及波形数据处理方法。波形数据处理装置可访问存储有色谱图等的测定波形的数据、及包含测定波形上所存在的相接近的多个波峰的波峰群的开始点及结束点的信息、波峰群中所含的各波峰的位置及正负方向的相关信息的存储装置，波形数据处理装置基于存储装置中存储的数据及信息，针对波峰群，将波峰群的开始点及结束点作为起点及终点，求出满足以下所有条件的最短直线或折线，将直线或折线确定为波峰群的基线。在正波峰连续的区域内，基线穿过测定波形的下侧，成为直线或向下凸出的折线；在负波峰连续的区域内，基线穿过测定波形的上侧，成为直线或向上凸出的折线；在正负波峰邻接的区域内，基线的形状不受测定波形的影响。

本申请为申请日为2013年10月04日，申请号为201380080053.2(国际申请号PCT/JP2013/077145)，发明名称为“波形数据处理装置及波形数据处理方法”的专利的分案申请。

技术领域

本发明涉及一种通过对利用色谱仪(chromatograph)等试料测定装置所获取的测定波形的数据进行处理，而针对包含所述测定波形上的邻接的多个波峰的波峰群确定基线的波形数据处理装置及波形数据处理方法。

背景技术

在液相色谱仪(LC(liquid chromatograph))或气相色谱仪(GC(gaschromatograph))中，将试料导入至管柱(column)并根据时间对所述试料中所含的成分进行分离，依次对这些成分进行检测，由此获取将横轴设为保持时间，将纵轴设为信号强度的色谱图。然后，从色谱图中提取波峰，根据与峰顶的位置相对应的保持时间对成分进行鉴定，并且，根据波峰面积对所述成分进行定量。

当如上所述为了成分的定量而求出波峰面积时，需要确定所述波峰的基线。但是，如专利文献1所述，如果在GC中进行升温分析，或在LC中进行梯度(gradient)分析而获取色谱图，则多会产生基线随时间发生变动的所谓基线漂移(drift)。

因此，在这种情况下，并非遍及色谱图的整个区域地将基线设为固定的值，而是针对各波峰分别进行基线的确定。作为一般的方法，是在色谱图上检测出作为对象的波峰的开始点及结束点，将连结这些点的线段当作所述波峰的基线。并且，算出由所述开始点至结束点之间的波峰波形及所述基线所围成的区域的面积作为波峰面积。

再者，在这里是举出色谱图作为一例，但有时在利用其它测定装置所获得的波形中同样也会产生基线的漂移。例如，如专利文献3所述，在分光测定中，在计算不配置试料而获取的参考数据(reference data)与配置试料而获取的测定数据的差分所获得的光谱中，有时会产生因获取参考数据时的测定环境与获取测定数据时的测定环境的不同(光学系统的变化、温度变化等)所引起的基线的漂移。因此，与色谱图的情况相同，在确定光谱的基线的情况下，也可以如上所述通过针对各波峰分别进行基线的确定来排除基线漂移的影响。

现有技术文献

专利文献

专利文献1：日本专利特开2004-271422号公报

专利文献2：美国专利第6694265号说明书([0095]，[0096]，图7A、7B)

专利文献3：日本专利特开2001-343324号公报

发明内容

[发明所要解决的问题]

基线确定的精度会直接影响到波峰面积的值，因此在基于色谱图或光谱等的测定波形对试料中的成分进行定量时，需要常常进行适当的基线确定。然而，例如，如图8所示，在测定波形上多个波峰p1、p2相接近的情况下，利用所述方法针对每个波峰确定基线b1、b2时，有可能各波峰的基线会高于实际，结果在波峰的定量值中产生大的误差。因此，在这种情况下，常采用如下方法：将这些波峰p1、p2设为未分离波峰群而检测出共同的基线b3，然后，进行从所述未分离波峰群的波形减去基线的处理(去除背景)之后，进行波峰的分离处理及波峰面积的计算。