[发明专利]一种图像传感器的质量检测方法及系统有效
| 申请号: | 201810332091.7 | 申请日: | 2018-04-13 |
| 公开(公告)号: | CN108737815B | 公开(公告)日: | 2019-12-10 |
| 发明(设计)人: | 赖伟 | 申请(专利权)人: | 深圳怡化电脑股份有限公司;深圳市怡化时代科技有限公司;深圳市怡化金融智能研究院 |
| 主分类号: | H04N17/00 | 分类号: | H04N17/00 |
| 代理公司: | 44237 深圳中一专利商标事务所 | 代理人: | 官建红 |
| 地址: | 518000 广东省深圳市南山*** | 国省代码: | 广东;44 |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 图像传感器 质量检测 线性度 预设 变化值计算 待检测图像 次像素 传感器 发光 计算机可读存储介质 预设时间间隔 归一化处理 检测系统 终端设备 像素 光源 场景 | ||
1.一种图像传感器的质量检测方法,其特征在于,所述质量检测方法包括:
在第一预设场景下,获取检测系统中光源的预设发光时间;其中,所述第一预设场景指示待检测图像传感器采集固定介质的像素值的场景,所述预设发光时间包括N个预设时间间隔,N≥0且为整数;
在所述预设发光时间内,获取N次像素值;其中,所述N次像素值分别为每间隔预设时间间隔时获取待检测图像传感器采集到的像素值;
分别获取所述N次像素与第一像素值的差值;其中,所述第一像素值为当发光时间为零时所述待检测图像传感器采集的像素值;
将N个所述差值进行归一化处理得到N个第一参数;
分别计算在相邻所述预设时间间隔时所对应第一参数的变化值;
根据所述第一参数的变化值计算出所述待检测图像传感器的线性度;
根据所述线性度判断所述待检测图像传感器的质量。
2.如权利要求1所述的质量检测方法,其特征在于,所述质量检测方法还包括:
在第二预设场景下,采集M次所述待检测图像传感器采集到的像素点所对应的像素值;其中,所述第二预设场景指示所述待检测图像传感器探测不到入射光源的场景,M≥2且为整数;
根据所述采集M次的像素点所对应的像素值计算第一波动值;
根据所述第一波动值判断所述待检测图像传感器的质量。
3.如权利要求2所述的质量检测方法,其特征在于,所述根据所述采集M次的像素点所对应的像素值计算第一波动值包括:
获取所述采集M次的像素点所对应的像素值中的最大值和最小值;
根据所述像素点所对应的像素值中的最大值与最小值的差值计算第一波动值。
4.如权利要求3所述的质量检测方法,其特征在于,所述检测方法还包括:
在所述第二预设场景下,获取所述待检测图像传感器采集的多个像素点分别对应的像素值;
根据所述多个像素点的像素值计算第二波动值;
根据所述第二波动值判断所述待检测图像传感器的质量。
5.如权利要求4所述的质量检测方法,其特征在于,所述根据所述多个像素点的像素值计算第二波动值包括:
获取所述多个像素点的像素值中的最大值和最小值;
根据所述多个像素点的像素值中的最大值与最小值的差值计算第二波动值。
6.如权利要求1至5任一项所述的质量检测方法,其特征在于,所述根据所述第一参数的变化值计算出所述待检测图像传感器的线性度包括:
根据所述第一参数的变化值与预设第一参数的变化值之间的均方差计算出所述待检测图像传感器的线性度。
7.如权利要求6所述的质量检测方法,其特征在于,所述根据所述第一参数的变化值与预设第一参数的变化值之间的均方差计算出所述待检测图像传感器的线性度的计算公式为:
其中,Q表示所述相邻预设时间间隔时所对应第一参数的变化值的个数,ki表示第i预设时间间隔与第i-1预设时间间隔时所对应第一参数的变化值,k1i表示第i预设时间间隔与第i-1预设时间间隔时所对应预设第一参数的变化值,i≧1且为整数,S表示所述待检测图像传感器的线性度。
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