[发明专利]一种基于衰耗图形特征点的光缆衰耗类型诊断系统及方法

权利要求书

1.一种基于衰耗图形特征点的光缆衰耗类型诊断方法，其特征在于，所述方法包括：

步骤1、获取待诊断光缆的衰耗反射光波，建立所述衰耗反射光波的图形，所述图形参数包括光波能量、光缆长度；所述图形为所述衰耗反射光波的光波能量、光缆长度的二维图形；

步骤2、提取所述衰耗反射光波图形的特征点；

步骤3、与数据库中已有衰耗类型的特征点进行比对；

步骤4、若比对成功，则确定待诊断光缆的衰耗类型，并进行对应的故障类型告警；

所述步骤2中，获取衰耗反射光波图形的特征点的方式为：

对于曲线上的任意的点B(k)＝(x_k，y_k)，建立二维图线的曲率函数：

其中：

d′_k＝(y_k+1-y_k)/(x_k+1-x_k) (2)

d″_k＝(d′_k+1-d′_k)(x_k+1-x_k) (3)

k＝1，2，...，N，N为绘制的二维图线的点的个数；

步骤201、基于上述公式(1)～(3)，求取二维图线上每个点的函数值；

步骤202、将二维图线在原坐标系内进行旋转，旋转角度在45°到135°之间，旋转后，再对形成的新的二维图线求出每个点的新的曲率；

步骤203、将上面求解的两组曲率，按照值的大小分别进行排序，形成两组排序后的曲率值，并对每组值取前M项；

步骤204、分别获取两组曲率值中的前20项对应的点的坐标，获得两组点的坐标组，并将两组点的坐标进行比较，找出相同的点；

步骤205、在上述相同的点中，按照其在原二维图线上的顺序进行排序，分别求取相邻两个点之间的曲率差值，并依据该曲率差值由大到小将点两两一组排序，选取前两组中的点，作为该二维图线的特征点使用。

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述步骤3之后还包括：

步骤5、若比对不成功，则录入所述衰耗反射光波的衰耗类型及其对应的特征点至数据库。

3.一种基于衰耗图形特征点的光缆衰耗类型诊断系统，其特征在于，所述系统设置于光缆故障诊断终端中；

所述系统包括衰耗反射光波获取模块、衰耗反射光波特征提取模块、特征比对模块；

所述衰耗反射光波获取模块用于获取待诊断光缆的衰耗反射光波；

所述衰耗反射光波特征提取模块用于对衰耗反射光波进行采样，并绘制衰耗反射光波的图形，以及提取衰耗反射光波的图形的特征点；

特征比对模块用于将衰耗反射光波特征提取模块提取的特征点与已有的特征点进行比对；

所述提取衰耗反射光波的图形的特征点包括：

对于曲线上的任意的点B(k)＝(x_k，y_k)，建立二维图线的曲率函数：

其中：

d′_k＝(y_k+1-y_k)/(x_k+1-x_k) (2)

d″_k＝(d′_k+1-d′_k）/（x_k+1-x_k) (3)

k＝1，2，...，N，N为绘制的二维图线的点的个数；

步骤201、基于上述公式(1)～(3)，求取二维图线上每个点的函数值；

步骤202、将二维图线在原坐标系内进行旋转，旋转角度在45°到135°之间，旋转后，再对形成的新的二维图线求出每个点的新的曲率；

步骤203、将上面求解的两组曲率，按照值的大小分别进行排序，形成两组排序后的曲率值，并对每组值取前M项；

步骤204、分别获取两组曲率值中的前20项对应的点的坐标，获得两组点的坐标组，并将两组点的坐标进行比较，找出相同的点；

步骤205、在上述相同的点中，按照其在原二维图线上的顺序进行排序，分别求取相邻两个点之间的曲率差值，并依据该曲率差值由大到小将点两两一组排序，选取前两组中的点，作为该二维图线的特征点使用。