[发明专利]一种基于深度学习的显示面板缺陷训练方法及系统在审
| 申请号: | 201810326948.4 | 申请日: | 2018-04-12 |
| 公开(公告)号: | CN108596226A | 公开(公告)日: | 2018-09-28 |
| 发明(设计)人: | 陈武;郑增强;花华妹;张胜森 | 申请(专利权)人: | 武汉精测电子集团股份有限公司 |
| 主分类号: | G06K9/62 | 分类号: | G06K9/62;G06N3/08 |
| 代理公司: | 武汉科皓知识产权代理事务所(特殊普通合伙) 42222 | 代理人: | 魏波 |
| 地址: | 430070 湖北省武汉*** | 国省代码: | 湖北;42 |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 显示面板 传统算法 模型训练 缺陷检测 缺陷类型 人力成本 神经网络 图形处理 样本库 局限 输出 学习 成功 | ||
1.一种基于深度学习的显示面板缺陷训练方法,其特征在于,包括以下步骤:
步骤1:根据现有Mura缺陷的特征,模拟出各类Mura缺陷,形成缺陷样本图片库;
步骤2:将步骤1中获得的缺陷样本图片在显示面板上显示;
步骤3:对显示面板进行图片采集,并根据所对应的缺陷类型标记图片缺陷类型;
步骤4:使用深度神经网络,基于每一缺陷类型的图片,进行训练通过不断的提炼和拟合,最终形成缺陷检测模型。
2.根据权利要求1所述的基于深度学习的显示面板缺陷训练方法,其特征在于:步骤1中所述现有Mura缺陷的特征,包括特征形状、位置、对比度、面积大小;根据这些特征,在一个完整的画面上去临摹出带有不同形状、位置、对比度和面积的缺陷样本。
3.根据权利要求1所述的基于深度学习的显示面板缺陷训练方法,其特征在于:步骤1中,将Mura缺陷按不同种类分为1、2、3、…、n,共n个类别,根据每个缺陷的特征,分别绘制出该n类Mura缺陷,并通过几何变换遍历出缺陷所有的形态和位置,形成缺陷样本库。
4.根据权利要求3所述的基于深度学习的显示面板缺陷训练方法,其特征在于:步骤1中,绘制出大小不一,灰阶差成梯度变化且位置不一的缺陷图片,以涵盖所有的Mura缺陷的特征变化的动态范围。
5.根据权利要求1-4任意一项所述的基于深度学习的显示面板缺陷训练方法,其特征在于:步骤4中,采用AlexNet模型进行训练;具体实现包括以下子步骤:
步骤4.1:将Mura缺陷按不同种类分为1、2、3、…、n,共n个类别,将步骤3中标记有缺陷信息的图片首先归一化为224×224的图像,作为输入神经元进入网络;
步骤4.2:使用softmax分类器对1、2、3、…、n,共n个类型进行n分类;在softmax回归中,对于给定的测试输入x,预测x的每一种分类结果x(i)出现的概率,概率分布函数将输出一个n维的向量元素和为1的向量来表示n个预测的概率值。
6.根据权利要求5所述的基于深度学习的显示面板缺陷训练方法,其特征在于:步骤4.1中,经过第一层卷积后得到进本的卷积数据,先进行一次ReLU以及Norm变换,然后进行pooling,作为输出传递到下一层;再经过4次卷积层后输出map数目256个,size为13×13;随后进入两个全连接层,第二个全连接层是在第一个全连接层的基础上再进行一次ReLU和dropout后的结果,最后输出softmax loss,节点数为n,对应n类对象。
7.根据权利要求5所述的基于深度学习的显示面板缺陷训练方法,其特征在于:步骤4.2中,在softmax回归中,对于给定的测试输入x,预测x的每一种分类结果x(i)出现的概率,假设概率分布函数hθ(x(i))为:
其中,i=1、2、3、…、n,θ1,θ2,θ3```θn为概率分布函数hθ(x(i))参数;θ1,θ2,θ3```θn∈An+1,An+1表示特征向量θ的维度为n+1,其中θ0=1对应截距项;用于对概率分布进行归一化处理,使得所有概率之和为1。
8.根据权利要求6-7任意一项所述的基于深度学习的显示面板缺陷训练方法,其特征在于:将测试样本输入缺陷检测模型,首先使用已经训练好的缺陷检测模型进行特征提取,然后生成分布式特征表示,进行映射到样本标记空间,最终输出检测结果。
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