[发明专利]一种检波器的性能检测方法及装置在审
| 申请号： | 201810326186.8 | 申请日： | 2018-04-12 |
| 公开（公告）号： | CN108549113A | 公开（公告）日： | 2018-09-18 |
| 发明（设计）人： | 俞度立;李幼铭;张延 | 申请（专利权）人： | 俞度立;李幼铭;张延 |
| 主分类号： | G01V13/00 | 分类号： | G01V13/00 |
| 代理公司： | 北京品源专利代理有限公司 11332 | 代理人： | 孟金喆 |
| 地址： | 北京市朝*** | 国省代码： | 北京;11 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 检波器 性能检测 输出信号 计算量 计算参考信号 方法参数 相似程度 频率域 全面性 直观性 综合分析 减小 检测 分析 统一 | ||
1.一种检波器的性能检测方法，其特征在于，包括：
计算输入到至少一个检波器的参考信号的自谱密度；
计算至少一个所述检波器的输出信号的自谱密度；
计算所述参考信号和所述输出信号的交叉谱密度；
根据所述参考信号的自谱密度、所述输出信号的自谱密度和所述交叉谱密度获取检测所述检波器性能的一致性函数。
2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述计算输入到至少一个检波器的参考信号的自谱密度，包括：
计算所述参考信号的自相关函数；
对所述参考信号的自相关函数进行离散时间傅里叶变换，获取所述参考信号的自谱密度；
以及，所述计算至少一个所述检波器的输出信号的自谱密度，包括：
计算所述输出信号的自相关函数；
对所述输出信号的自相关函数进行离散时间傅里叶变换，获取所述输出信号的自谱密度。
3.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述计算所述参考信号和所述输出信号的交叉谱密度，包括：
计算所述参考信号和所述输出信号的互相关函数；
对所述互相关函数进行离散时间傅里叶变换，获取所述参考信号和所述输出信号的交叉谱密度。
4.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述根据所述参考信号的自谱密度、所述输出信号的自谱密度和所述交叉谱密度获取检测所述检波器性能的一致性函数，包括：所述一致性函数通过以下公式获得，
其中，Sx(ω),为参考信号的自谱密度，Sy(ω)为输出信号的自谱密度，Sxy(ω)为交叉谱密度。
5.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述根据所述参考信号的自谱密度、所述输出信号的自谱密度和所述交叉谱密度获取检测所述检波器性能的一致性函数之后，还包括：
根据所述一致性函数获取所述检波器的信噪比。
6.一种检波器的性能检测装置，其特征在于，包括：
参考信号计算模块，用于计算输入到至少一个检波器的参考信号的自谱密度；
输出信号计算模块，用于计算至少一个所述检波器的输出信号的自谱密度；
交叉谱密度计算模块，用于计算所述参考信号和所述输出信号的交叉谱密度；
一致性函数计算模块，用于根据所述参考信号的自谱密度、所述输出信号的自谱密度和所述交叉谱密度获取检测所述检波器性能的一致性函数。
7.根据权利要求6所述的装置，其特征在于，所述参考信号计算模块具体用于：
计算所述参考信号的自相关函数；
对所述参考信号的自相关函数进行离散时间傅里叶变换，获取所述参考信号的自谱密度；
以及，所述输出信号计算模块具体用于：
计算所述输出信号的自相关函数；
对所述输出信号的自相关函数进行离散时间傅里叶变换，获取所述输出信号的自谱密度。
8.根据权利要求6所述的装置，其特征在于，所述交叉谱密度计算模块具体用于：
计算所述参考信号和所述输出信号的互相关函数；
对所述互相关函数进行离散时间傅里叶变换，获取所述参考信号和所述输出信号的交叉谱密度。
9.根据权利要求6所述的装置，其特征在于，所述一致性函数计算模块具体用于：所述一致性函数通过以下公式获得，
其中，Sx(ω),为参考信号的自谱密度，Sy(ω)为输出信号的自谱密度，Sxy(ω)为交叉谱密度。
10.根据权利要求6所述的装置，其特征在于，还包括：
信噪比计算模块，用于根据所述一致性函数获取所述检波器的信噪比。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于俞度立;李幼铭;张延，未经俞度立;李幼铭;张延许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201810326186.8/1.html，转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇：一种高速实时X射线计算机断层扫描安检系统
- 下一篇：一种电离层高度的反演方法
