[发明专利]一种投影触控方法、装置及投影触控设备有效

专利信息
申请号: 201810322895.9 申请日: 2018-04-11
公开(公告)号: CN108829294B 公开(公告)日: 2021-08-27
发明(设计)人: 罗伯特·肖;曹腾;郭宁;卓军;张洋;克里斯·哈里森 申请(专利权)人: 卡耐基梅隆大学;北京一数科技有限公司
主分类号: G06F3/042 分类号: G06F3/042;G01S17/08
代理公司: 北京柏杉松知识产权代理事务所(普通合伙) 11413 代理人: 李欣;马敬
地址: 美国宾夕法*** 国省代码: 暂无信息
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摘要:
搜索关键词: 一种 投影 方法 装置 设备
【权利要求书】:

1.一种投影触控方法,其特征在于,所述方法包括:

获得至少两个测距传感器各自针对待测目标测量所得的原始测距数据,其中,所述原始数据是同时启动测距传感器阵列中的所有测距传感器,对待测目标进行测距得到的,所述测距传感器的测距区域均呈扇形,且至少有位置相邻的两个测距传感器的测距区域存在部分重叠,所述待测目标为针对投影区域进行触控操作的物体;

基于预设的滤波算法,对所述原始测距数据进行处理,得到备选测距数据;

从所述备选测距数据中,筛选出至少两个数值不超过预设的有效阈值,且数值最小的备选测距数据,作为有效测距数据;

基于所述有效测距数据,计算得到所述待测目标在所述投影区域的位置坐标;

根据所述位置坐标生成相应的触控指令。

2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述基于所述有效测距数据,计算得到所述待测目标在所述投影区域的位置坐标具体为:

针对所述投影区域建立平面直角坐标系;

利用所述有效测距数据,以及所述至少两个测距传感器之间的几何关系,计算得到所述待测目标在所述投影区域的横坐标;

利用所述横坐标计算得到所述待测目标在所述投影区域的纵坐标;

将所述待测目标在所述投影区域的横坐标和纵坐标确定为所述待测目标在所述投影区域的位置坐标。

3.根据权利要求2所述的方法,其特征在于,所述测距传感器阵列所包含的测距传感器沿直线等间距排列,则所述利用所述横坐标计算得到所述待测目标在所述投影区域的纵坐标所利用公式为:

其中,所述

所述y标识所述待测目标的纵坐标值,所述x标识所述待测目标的横坐标值,所述xi标识第i测距传感器所测得的有效测距数据,所述A标识位置相邻的两个测距传感器之间的间隔距离,所述n为不大于N的正整数,所述N标识所述测距传感器阵列所包含的测距传感器的总个数,所述d标识预设的调整参数。

4.根据权利要求1-3任一项所述的方法,其特征在于,所述获得至少两个测距传感器各自针对待测目标测量所得的有效测距数据具体为:

利用测距传感器阵列轮询的对待测目标进行距离测量,获得每次轮询测量时,至少两个测距传感器各自针对待测目标测量所得的有效测距数据;

所述计算得到所述待测目标在所述投影区域的位置坐标具体为:

基于每次轮询测量时,至少两个测距传感器各自针对待测目标测量所得的有效测距数据,计算得到每次轮询测量时所述待测目标在所述投影区域的位置坐标;

所述根据所述位置坐标生成相应的触控指令具体为:

根据每次轮询测量时的位置坐标,以及各个位置坐标对应的时间,确定所述待测目标的移动轨迹;

根据所述移动轨迹生成相应的触控指令。

5.根据权利要求4所述的方法,其特征在于,所述根据所述移动轨迹生成相应的触控指令具体为:

确定所述移动轨迹的长度;

判断所述移动轨迹的长度是否超过预设长度阈值;

当所述移动轨迹的长度超过所述预设长度阈值时,则将各个位置坐标中时间最早的位置坐标作为起始坐标;将各个位置坐标中时间最晚的位置坐标作为终止坐标;

生成从所述起始坐标至所述终止坐标的滑动操作指令。

6.根据权利要求5所述的方法,其特征在于,所述方法还包括:

当所述移动轨迹的长度未超过所述预设长度阈值时,则基于所述各个位置坐标,以及各个位置坐标对应的时间,计算所述待测目标经过各个位置坐标时的速度;

将所对应速度最小的一个位置坐标,确定为目标触控位置;

基于所述目标触控位置,生成点击触控指令。

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