[发明专利]一种复合材料超声C扫缺陷面积确定方法

说明书

本发明涉及一种复合材料超声C扫缺陷面积确定方法，包括：获取复合材料产品的二值化超声C扫图；基于所述复合材料产品的二值化超声C扫图，分别确定复合材料产品长度方向和宽度方向的像素比例系数K1和K2；对于复合材料的超声C扫图上的各个缺陷，获取各个缺陷包含的像素的个数和，基于所述各个缺陷包含的像素的个数和以及K1和K2，获取各个缺陷的面积；对各个缺陷面积求和得到缺陷总面积。该方法实现了复合材料超声C扫缺陷面积准确、快速地计算，且工作量小，满足复合材料产品内部质量控制要求。

技术领域

本发明涉及复合材料超声无损检测领域，具体涉及一种复合材料超声C扫缺陷面积确定方法。

背景技术

复合材料在航空航天等行业已广泛应用，目前，通常是采用超声C扫的方法来检测其中的分层、脱粘等缺陷。该方法可将复合材料中缺陷的位置、大小等信息以直观的颜色显示在C扫图中。

目前，国内采用的复合材料超声C扫缺陷面积计算方法有：方法1(测长法)：用检测设备自带的长度测量工具测量超声C扫图中缺陷的最大长度和最大宽度，两者相乘的积得到缺陷面积，该方法的缺点为：计算的缺陷面积含有完好区域的面积，计算的结果不准确；方法2(格子法)：根据超声C扫图在实际产品上标注缺陷的边界，用带有格子的透明板与缺陷边界对比，记录缺陷占有的格子的个数，将个数乘以格子的面积得到缺陷面积，该方法的缺点为：要在实际产品上标注，用数格子的方式计算面积，工作量较大，可靠性较低。

发明内容

在下文中给出关于本发明的简要概述，以便提供关于本发明的某些方面的基本理解。应当理解，这个概述并不是关于本发明的穷举性概述。它并不是意图确定本发明的关键或重要部分，也不是意图限定本发明的范围。其目的仅仅是以简化的形式给出某些概念，以此作为稍后论述的更详细描述的前序。

本发明的目的在于克服现有技术的不足，具体涉及一种复合材料超声C扫缺陷面积确定方法，该方法实现了复合材料超声C扫缺陷面积准确、快速地计算，且工作量小，满足复合材料产品内部质量控制要求。

本发明的技术解决方案：

本发明涉及一种复合材料超声C扫缺陷面积确定方法，其特征在于，通过以下步骤实现：

步骤一、获取复合材料产品的二值化超声C扫图

步骤二、基于所述复合材料产品的二值化超声C扫图，分别确定复合材料产品长度方向和宽度方向的像素比例系数K1和K2；

步骤三、对于复合材料的超声C扫图上的各个缺陷，获取各个缺陷包含的像素的个数和，基于所述各个缺陷包含的像素的个数和以及K1和K2，获取各个缺陷的面积；

步骤四、对各个缺陷面积求和得到缺陷总面积。

进一步地，所述像素比例系数K1和K2分别通过下式获取：

K1＝L1/N1，

K2＝L2/N2，

其中，L1为复合材料产品长度边界的实际值，N1为L1所占有的像素点的个数；L2为复合材料产品宽度边界的实际值，N2为L2所占有的像素点的个数。

进一步地，对于任意缺陷的面积，具体由下式获取：

S＝K1*K2*Ns，

其中，Ns为该任意缺陷包含的像素的个数和。

进一步地，所述二值化的超声C扫图通过对复合材料产品进行超声穿透法C扫检测获得。

进一步地，所述步骤二到步骤四可采用软件程序实现。