[发明专利]一种基坑变形测量装置及其测量方法有效

专利信息
申请号: 201810313526.3 申请日: 2018-04-10
公开(公告)号: CN108507526B 公开(公告)日: 2020-07-17
发明(设计)人: 永远;贺正琦;李盼召;高远瞩;张仲瑞 申请(专利权)人: 西南交通大学
主分类号: G01B21/32 分类号: G01B21/32;G01B7/16;G01B7/24;G01C5/00;G01C9/00
代理公司: 成都众恒智合专利代理事务所(普通合伙) 51239 代理人: 吴桐
地址: 610031 四川省*** 国省代码: 四川;51
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摘要:
搜索关键词: 一种 基坑 变形 测量 装置 及其 测量方法
【权利要求书】:

1.一种基坑变形测量装置,包括钢丝(1)、弹簧(2)、倾角传感器(3)、位移传感器(4),上固定板(5)和下固定板(6),所述上固定板(5)固定于基坑侧壁上边缘处且垂直于基坑侧壁;钢丝(1)底端固定于靠近基坑侧壁的基坑底部,下固定板(6)固定于钢丝(1)顶部且垂直于钢丝(1),弹簧(2)和位移传感器(4)的一端与下固定板(6)上表面连接,弹簧(2)和位移传感器(4)的另一端与上固定板(5)的下表面连接;所述弹簧(2)的弹性系数为1~2N/mm;所述倾角传感器(3)固定于钢丝(1)顶端,垂直于钢丝(1)放置,可用于测量钢丝(1)的偏转角度;测量开始前,对弹簧(2)和钢丝(1)进行预紧,并使钢丝(1)和弹簧(2)处于竖直拉伸状态。

2.根据权利要求1所述的一种基坑变形测量装置,其特征在于:所述位移传感器(4)包括磁致伸缩位移传感器、拉杆式直线位移传感器和电容式位移传感器。

3.一种权利要求1-2任一所述的基坑变形测量装置的测量方法,其特征在于:实时监测倾角传感器(3)所测得角度值θ和位移传感器(4)所测得的位移值d,并根据所测得的角度值θ和位移值d判定基坑的水平位移X和竖向位移Y,其具体判定方法是:

如果角度值θ≠0,位移值d≥0,则判定基坑仅发生水平位移X,X=2πh*θ/360°,其中,h为初始基坑深度;

如果角度值θ=0,位移值d≠0,则判定基坑仅发生竖向位移Y,Y=d;

如果角度值θ≠0,位移值d<0,则判定基坑既发生了水平位移X,又发生了竖向位移Y,水平位移X=2π(h-d)*θ/360°,竖向位移Y=d,其中,h为初始基坑深度。

4.一种权利要求1-2任一所述的基坑变形测量装置的测量方法,其特征在于:实时监测倾角传感器(3)所测得角度值θ和位移传感器(4)所测得的位移值d,并根据所测得的角度值θ和位移值d判定基坑的水平位移X和竖向位移Y,其具体判定方法是:

如果角度值θ≠0,位移值d≥0,则判定基坑仅发生水平位移X,X=h*tanθ,其中,h为初始基坑深度;

如果角度值θ=0,位移值d≠0,则判定基坑仅发生竖向位移Y,Y=d;

如果角度值θ≠0,位移值d<0,则判定基坑既发生了水平位移X,又发生了竖向位移Y,水平位移X=(h-d)*tanθ,竖向位移Y=d,其中,h为初始基坑深度。

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