[发明专利]显示面板、光电检测方法、装置及计算机可读存储介质在审

专利信息
申请号: 201810307742.7 申请日: 2018-04-08
公开(公告)号: CN108510924A 公开(公告)日: 2018-09-07
发明(设计)人: 陈朝喜 申请(专利权)人: 北京小米移动软件有限公司
主分类号: G09G3/00 分类号: G09G3/00
代理公司: 北京三高永信知识产权代理有限责任公司 11138 代理人: 梁洪文
地址: 100085 北京市海淀区清河*** 国省代码: 北京;11
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摘要:
搜索关键词: 显示面板 光电检测 光电检测阵列 终端 计算机可读存储介质 显示区域 开孔 通孔 像素 电子技术领域 光电检测单元 占用 面积受限 显示性能 像素阵列 间隙处 美观度 射入 穿过 检测
【权利要求书】:

1.一种显示面板,其特征在于,所述显示面板包括:

像素阵列,其包括多个子像素,所述多个子像素之间的间隙处具有通孔;以及,

光电检测单元,其包括光电检测阵列,所述光电检测阵列对穿过所述通孔射入的光线进行检测。

2.如权利要求1所述的显示面板,其特征在于,

所述光电检测阵列在所述像素阵列所在平面上的正投影的至少一部分落入所述像素阵列之内。

3.如权利要求1所述的显示面板,其特征在于,所述通孔中设置有透光材料。

4.如权利要求1-3任一所述的显示面板,其特征在于,所述多个子像素为所述光电检测阵列在所述像素阵列所在平面上的正投影内的子像素。

5.如权利要求1所述的显示面板,其特征在于,所述光电检测单元被配置以形成用于光电检测器的检测电路的部分。

6.一种光电检测方法,其特征在于,应用于安装有上述权利要求1-5任一所述的显示面板的终端,所述方法包括:

从所述多个子像素中确定多个目标子像素,所述多个目标子像素为位于所述光电检测阵列在所述像素阵列所在平面上的正投影内的子像素;

通过所述光电检测阵列检测穿过所述通孔射入的光线的第一光谱特征,并确定所述多个目标子像素发出的光线的第二光谱特征;

根据所述第一光谱特征和所述第二光谱特征,确定所述终端的外界环境光线的光谱特征。

7.如权利要求6所述的方法,其特征在于,所述确定所述多个目标子像素发出的光线的第二光谱特征,包括:

确定所述多个目标子像素的像素值;

根据所述像素值确定所述多个目标子像素发出的光线的第二光谱特征。

8.如权利要求6或7所述的方法,其特征在于,所述根据所述第一光谱特征和所述第二光谱特征,确定所述终端的外界环境光线的光谱特征,包括:

使用所述第二光谱特征对所述第一光谱特征进行反卷积,得到所述终端的外界环境光线的光谱特征。

9.一种光电检测装置,其特征在于,应用于安装有上述权利要求1-5任一所述的显示面板的终端,所述装置包括:

第一确定模块,用于从所述多个子像素中确定多个目标子像素,所述多个目标子像素为位于所述光电检测阵列在所述像素阵列所在平面上的正投影内的子像素;

第二确定模块,用于通过所述光电检测阵列检测穿过所述通孔射入的光线的第一光谱特征,并确定所述多个目标子像素发出的光线的第二光谱特征;

第三确定模块,用于根据所述第一光谱特征和所述第二光谱特征,确定所述终端的外界环境光线的光谱特征。

10.如权利要求9所述的装置,其特征在于,所述第二确定模块包括:

第一确定子模块,用于确定所述多个目标子像素的像素值;

第二确定子模块,用于根据所述像素值确定所述多个目标子像素发出的光线的第二光谱特征。

11.如权利要求9或10所述的装置,其特征在于,所述第三确定模块包括:

反卷积子模块,用于使用所述第二光谱特征对所述第一光谱特征进行反卷积,得到所述终端的外界环境光线的光谱特征。

12.一种光电检测装置,其特征在于,应用于安装有上述权利要求1-5任一所述的显示面板的终端,所述装置包括:

处理器;

用于存储处理器可执行指令的存储器;

其中,所述处理器被配置为执行权利要求6-8所述的任一项方法的步骤。

13.一种计算机可读存储介质,所述计算机可读存储介质上存储有指令,其特征在于,所述指令被处理器执行时实现权利要求6-8所述的任一项方法的步骤。

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