[发明专利]基于荧光材料的无损检测系统

权利要求书

1.基于荧光材料的无损检测系统,其特征在于,所述系统包括:

荧光激发装置，所述荧光激发装置用于发射激发荧光材料的激发光，其中所述激发光为非平行激发光；

信号采集处理装置,所述信号采集处理装置用于获取荧光信号；

数据处理装置,所述数据处理装置用于将待测产品表面的荧光信号转化为待测产品表面的位置信息；

输出装置，所述输出装置可输出所述待测产品表面的位置信息。

2.根据权利要求1所述的无损检测系统，其特征在于，所述激发光为激光。

3.根据权利要求1所述的无损检测系统，其特征在于，所述荧光激发装置包括探头，所述非平行激发光通过所述探头对准测试点进行激发。

4.根据权利要求3所述的无损检测设备，其特征在于，所述探头中设置有透镜,荧光激发装置的激发器发出光线通过所述透镜获得非平行激发光。

5.根据权利要求1所述的无损检测系统，其特征在于，所述荧光信号为荧光寿命或不同波长的发光峰峰面积比。

6.根据权利要求1所述的无损检测系统，其特征在于，所述数据处理装置包括数据拟合模块；所述数据拟合模块可通过已知距离位置测试点与非平行激发光不同相对距离下激发的荧光信号进行拟合处理，获得待测产品表面的荧光信号与待测产品表面位置信息之间的关联关系。

7.根据权利要求3所述的无损检测系统，其特征在于，所述探头可来回移动。

8.根据权利要求6所述的无损检测系统，其特征在于，所述数据拟合模块以以下函数的方式通过已知距离位置测试点与非平行激发光不同相对距离下激发的荧光信号进行拟合：y＝k₀+k₁x+k₂x²…+k_ixⁱ；其中y为相对距离，x为荧光信号。

9.根据权利要求1-8任意一项所述的无损检测系统，其特征在于，所述无损检测系统包括样品放置平台，所述样品放置平台可在平台所在平面调节移动改变待测产品的测试点。

10.根据权利要求9所述的无损检测系统，其特征在于，所述无损检测系统包括X轴滑台、Y轴滑台、Z轴滑台和坐标处理模块，所述探头可通过Z轴滑台来回移动改变与测试点的相对距离，所述样品放置平台可通过X轴滑台和Y轴滑台在平台所在平面移动，通过所述坐标处理模块可控制探头和样品放置平台在X轴滑台、Y轴滑台和Z轴滑台的移动位置。