[发明专利]基于高光谱的含锂辉石伟晶岩识别方法

权利要求书

1.一种基于高光谱的含锂辉石伟晶岩识别方法，其特征在于，包括以下步骤：

1)对样品进行波谱测量；

2)分析样品所含各类岩石的波谱特征，得出围岩、含锂辉石伟晶岩、不含锂辉石伟晶岩、锂辉石单晶的波谱特征；

3)分析围岩、含锂辉石伟晶岩、不含锂辉石伟晶岩、锂辉石单晶的波谱特征，寻找含锂辉石伟晶岩的指示意义波段；

4)建立识别含锂辉石伟晶岩的定量反演模型；

其中所述含锂辉石伟晶岩的指示意义波段为1900nm，选取样品不同孔深的1880nm及1895nm的波谱吸收深度差作为1900nm处波谱吸收深度，

所述步骤4)包括：首先计算样品不同深度在所述指示意义波段的吸收深度；再测定与其对应深度的锂含量；作出随深度变化的波谱吸收深度和对应深度的锂含量趋势图，得出不同深度的波谱吸收深度与锂含量的定量反演模型。

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述步骤1)中，采用ASD地物波谱仪进行波谱测量，在不同的钻孔深度间隔取样，将波谱仪接触式探头对准样品，待波谱特征稳定后保存该深度的样品波谱特征，完成波谱测量。

3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述步骤1)中，包括建立典型岩石及矿物的波谱库的步骤；建立的波谱库包括按照样品所在钻孔深度排序记录的样品岩性及波谱信息，主要存储测量得到的样品序号、光谱编号、钻孔深度、镜下照片、主要矿物描述、波谱测量结果图、波谱特征分析及结论。

4.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，所述步骤2)中，围岩、含锂辉石伟晶岩、不含锂辉石伟晶岩、锂辉石单晶的波谱特征分别为：围岩整体反射率较低，在0.2以下，整体波谱比较平缓，没有明显的特征吸收；含锂辉石伟晶岩整体反射率中等，在0.5以下，在1413nm、1900nm、2207nm处具有明显吸收特征；不含锂辉石伟晶岩整体反射率中等偏上，在0.7以下，在1413nm、2197nm处具有明显吸收特征，在1900nm、2345nm处有微弱的吸收特征；锂辉石单晶整体反射率中等，在0.5以下，在1413nm、1900nm、2207nm处有吸收谷，在1000nm处有一宽缓的吸收特征。

5.根据权利要求4所述的方法，其特征在于，所述步骤3)中，含锂辉石伟晶岩在1900nm的特征吸收可以将锂辉石伟晶岩与不含锂辉石伟晶岩及围岩区分。

6.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述步骤4)中，测量样品的锂含量运用X射线荧光光谱仪，采用的测量方法为JY/T 016-1996--波长色散型X射线荧光光谱方法。

7.根据权利要求6所述的方法，其特征在于，所述步骤4)中，根据最小二乘原理，得出不同深度的波谱吸收深度与锂含量的定量反演模型及相关系数R²结果为：

y＝163704x+494.67

R²＝0.7459。