[发明专利]一种量子产率测量方法在审
| 申请号： | 201810302648.2 | 申请日： | 2018-04-05 |
| 公开（公告）号： | CN108204964A | 公开（公告）日： | 2018-06-26 |
| 发明（设计）人： | 程桂平 | 申请（专利权）人： | 程桂平 |
| 主分类号： | G01N21/64 | 分类号： | G01N21/64;C09K11/65 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 100301 北京*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 产率 量子 氨基丙基三乙氧基硅烷 测量 氨水 硅酸四乙酯 异丙醇溶剂 氧硅烷基 琥珀酸酐 氧硅烷 正丙醇 丙基 | ||
【权利要求书】：
1.一种量子产率测量方法，包括：
步骤1:在20 mL异丙醇溶剂中加入0.5 mL氨水和2克硅酸四乙酯, 在30℃反应搅拌24小时;
步骤2:加入3克四丁氧硅烷和2ml正丙醇,在50℃反应搅拌12小时;
步骤3:加入1克氨基丙基三乙氧基硅烷和3克3-（三乙氧硅烷基）丙基琥珀酸酐, 在30℃反应搅拌24小时;
步骤4: 以酒精清洗3次;
步骤5: 将所得粉体进行热处理，以2℃/min的加热速率加热至400℃，得到淡黄色的碳掺杂二氧化硅粉体；
步骤6：根据公式1来计算量子产率，公式1：
其中Φ为量子产率，I是测量的整体发射强度，n是折射系数，酒精为1.36，而A是光学强度，而下标r是指已知量子产率的参考荧光团。
2.本发明的粉体用作荧光材料。
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