[发明专利]光电传感器及其制备方法在审
申请号: | 201810291004.8 | 申请日: | 2018-04-03 |
公开(公告)号: | CN108461509A | 公开(公告)日: | 2018-08-28 |
发明(设计)人: | 王春雷;赵伟;韩林;蒋昆 | 申请(专利权)人: | 京东方科技集团股份有限公司;北京京东方光电科技有限公司 |
主分类号: | H01L27/144 | 分类号: | H01L27/144;H01L21/82 |
代理公司: | 北京天昊联合知识产权代理有限公司 11112 | 代理人: | 柴亮;张天舒 |
地址: | 100015 *** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 光电二极管 光电传感器 非可见光 基底 可见光 转换层 制备 检测技术领域 薄膜晶体管 电性连接 转换 背离 | ||
1.一种光电传感器,包括:基底,设置在所述基底上的光电二极管,以及与所述光电二极管电性连接的薄膜晶体管,其特征在于,还包括:设置在所述基底上、且背离所述光电二极管的一侧的非可见光转换层,所述非可见光转换层用于将非可见光转换成可见光,以供所述光电二极管将所述可见光转换为电信号。
2.根据权利要求1所述的光电传感器,其特征在于,所述光电二极管包括:沿背离所述基底方向依次设置的第二极、PIN半导体层、第一极;其中,
所述光电二极管的第一极与所述薄膜晶体管的漏极一体成型。
3.根据权利要求2所述的光电传感器,其特征在于,在所述光电二极管的PIN半导体层上设置有层间绝缘层,且在所述层间绝缘层至少与所述PIN半导体层对应的位置处设置有过孔,所述光电二极管的第一极通过所述过孔与所述PIN半导体层连接;
沿着背离所述基底的方向,所述薄膜晶体管的源极、漏极、有源层、栅极依次设置在所述层间绝缘层上。
4.根据权利要求2所述的光电传感器,其特征在于,所述第二极的中间位置处设置有容纳部,用于容纳所述可见光。
5.根据权利要求1所述的光电传感器,其特征在于,所述光电传感器还包括:保护层,设置在所述非可见光转换层背离所述基底的一侧。
6.根据权利要求1所述的光电传感器,其特征在于,所述非可见光转换层的材料包括碘化铯。
7.一种光电传感器的制备方法,其特征在于,所述光电传感器为权利要求1-6中任一项所述的光电传感器,所述制备方法包括:
在基底上形成非可见光转换层;
在所述基底上、且背离所述非可见光转换层的一侧,形成光电二极管,以及与所述光电二极管电性连接的薄膜晶体管。
8.根据权利要求7所述的光电传感器的制备方法,其特征在于,所述光电二极管包括:沿背离所述基底方向依次设置的第二极、PIN半导体层、第一极;其中,所述光电二极管的第一极与所述薄膜晶体管的漏极,采用一次构图工艺形成。
9.根据权利要求8所述的光电传感器的制备方法,其特征在于,所述在所述基底上、且背离所述非可见光转换层的一侧,形成光电二极管,以及与所述光电二极管电性连接的薄膜晶体管的步骤具体包括:
在所述光电二极管的PIN层上形成层间绝缘层,且在所述层间绝缘层至少与所述PIN半导体层对应的位置处形成过孔;
通过构图工艺,形成包括薄膜晶体管的源极、漏极,以及光电二极管的第一极的图形;其中,所述光电二极管的第一极通过所述过孔与所述PIN半导体层连接;
通过构图工艺,形成包括薄膜晶体管的有源层的图形;其中,所述薄膜晶体管的源极与所述有源层的源极接触区连接,所述薄膜晶体管的漏极与所述有源层的漏极接触区连接;
形成栅极绝缘层;
通过构图工艺,形成包括薄膜晶体管的栅极的图形。
10.根据权利要求7所述的光电传感器的制备方法,其特征在于,所述在基底上形成非可见光转换层的步骤之后,还包括:在所述非可见光转换层背离所述基底的一侧形成保护层。
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H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L27-00 由在一个共用衬底内或其上形成的多个半导体或其他固态组件组成的器件
H01L27-01 .只包括有在一公共绝缘衬底上形成的无源薄膜或厚膜元件的器件
H01L27-02 .包括有专门适用于整流、振荡、放大或切换的半导体组件并且至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的;包括至少有一个跃变势垒或者表面势垒的无源集成电路单元的
H01L27-14 . 包括有对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射或者微粒子辐射并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或适用于通过这样的辐射控制电能的半导体组件的
H01L27-15 .包括专门适用于光发射并且包括至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的半导体组件
H01L27-16 .包括含有或不含有不同材料结点的热电元件的;包括有热磁组件的