[发明专利]动量空间光谱测量系统

权利要求书

1.一种动量空间光谱测量系统，用于对微纳光子学材料进行动量空间光谱信息的探测与表征，其特征在于，至少包括下述部件：物镜、光学透镜La、光学透镜Lb、光谱探测设备，物镜、光学透镜La、光学透镜Lb、光谱探测设备沿同一直线光轴布置，使光信号依次通过所述的物镜、所述的光学透镜La、所述的光学透镜Lb后由所述的光谱探测设备接收；

在物镜后放置光学透镜La，在光学透镜La后放置光学透镜Lb，使物镜的后焦平面在光学透镜Lb后第一次成像，形成后焦平面第一次成像面M1，样品面在光学透镜La与光学透镜Lb之间第一次成像，形成样品面第一次成像面S1；将光谱探测设备的入光口放置于所述的光学透镜Lb后的后焦平面第一次成像面M1处；光学透镜La与物镜的后焦平面M0的距离D1满足以下条件：

0≤D1≤2f_La

光学透镜Lb与光学透镜La的距离Dab满足以下条件：

f_La＜Dab≤2f_Lb+f_La

其中，f_La表示光学透镜La的焦距；f_Lb表示光学透镜Lb的焦距。

2.如权利要求1所述的动量空间光谱测量系统，其特征在于，所述的光谱探测设备由分光元件与光电探测设备组成；分光元件对光信号沿波长展开，光电探测设备获取单一波长或多个波长的光强信息；和/或，所述的物镜由一个透镜或反射镜组成，或者是多个透镜或多个反射镜的组合。

3.如权利要求1所述的动量空间光谱测量系统，其特征在于，光谱探测设备中使用单点光电探测设备，通过扫描的形式获取多波长光谱；

或，光谱探测设备中使用阵列光电探测设备，实现焦平面的成像或者光谱的采集。

4.如权利要求1所述的动量空间光谱测量系统，其特征在于，D1＝f_La；和/或，Dab＝f_La+f_Lb；

和/或，在光谱探测设备前加入偏振元件，实现光学偏振性质的测量；

和/或，在光谱探测设备前加入滤光元件；

和/或，在样品面第一次成像面S1处放置光阑元件进行修饰。

5.如权利要求1所述的动量空间光谱测量系统，其特征在于，在光学透镜Lb与光谱探测设备之间沿光轴依次加入光学透镜Lc0、光学透镜Ld0，来自样品的光通过物镜后依次通过所述的光学透镜La、光学透镜Lb、光学透镜Lc0和光学透镜Ld0后由光谱探测设备接收。

6.如权利要求5所述的动量空间光谱测量系统，其特征在于，物镜的后焦平面在光学透镜Ld0后第二次成像，形成后焦平面第二次成像面M2；将光谱探测设备的入光口放置于所述光学透镜Ld0后的后焦平面第二次成像面M2处。

7.如权利要求5所述的动量空间光谱测量系统，其特征在于，光学透镜Lc0与后焦平面第一次成像面M1的距离D2满足以下条件：

0≤D2≤2f_Lc0

光学透镜Ld0与光学透镜Lc0的距离Dcd0满足以下条件：

f_Lc0＜Dcd0≤2f_Ld0+f_Lc0

f_Lc0表示光学透镜Lc0的焦距，f_Ld0表示光学透镜Ld0的焦距。

8.如权利要求7所述的动量空间光谱测量系统，其特征在于，D2＝f_Lc0；和/或，Dcd0＝f_Lc0+f_Ld0。

9.如权利要求5所述的动量空间光谱测量系统，其特征在于，样品面在光学透镜Lc0与光学透镜Ld0之间第二次成像，形成样品面第二次成像面S2；在样品面第二次成像面S2放置光阑元件进行修饰。