[发明专利]一种测量双平板PET系统噪声等效计数率的方法

权利要求书

1.一种测量双平板PET系统噪声等效计数率的方法，其步骤包括：

1)定义双平板PET系统的坐标空间，确定双平板PET系统的轴向方向；

2)将选取的模体置于该双平板PET系统中进行数据采集；将采集到的符合数据组织为直方图形式，并记录采集持续时间；其中，模体的轴向方向与该双平板PET系统的轴向方向一致；

3)将直方图中的每一轴向倾斜层数据重组到对应的与轴向方向垂直的单层直方图中；

4)统计直方图每层的总符合计数率；以及根据直方图每层数据中的每个像素所对应的LOR线与模体中线源之间的距离，确定出每层每个投影角度下所测计数为偶然符合和散射符合的像素；然后依据这些像素的计数值，计算出每层每个投影角度下的偶然符合与散射符合计数；

5)将每层中所有投影角度下的偶然符合与散射符合计数进行累加，计算出每层的偶然符合与散射符合计数；

6)根据直方图每层的总符合计数率、偶然符合与散射符合计数率，计算出直方图每层的真实符合计数率；

7)根据直方图每层的真实符合计数率计算得到该双平板PET系统的噪声等效计数率；

其中，计算出每层每个投影角度下的偶然符合与散射符合计数的方法为：设将每层直方图中每个投影角度下的LOR线与线源之间的距离记为d_i,j,k，其中i代表层编号，j代表角度编号，k代表第i层第j个角度下的数据编号，当LOR线在线源左侧或下方时d_i,j,k为负值；设置一距离阈值M；

a)如果第i层第j个角度下的所有像素与线源的距离均满足|d_i,j,k|M，则将第i层第j个角度下所有像素的计数累加，得到第i层第j个角度下的偶然符合与散射符合计数值C_r+s,i,j；

b)如果第i层第j个角度下的像素与线源的距离存在d_i,j,kM，也存在d_i,j,k-M，同时也存在|d_i,j,k|≤M的像素，则获取第i层第j个角度下与线源距离为-M和M的位置点的计数值C_L,i,j与C_R,i,j；然后采用线性插值的方法确定|d_i,j,k|M的像素的计数值，得到第i层第j个角度下的偶然符合与散射符合计数值C_r+s,i,j；

c)如果第i层第j个角度下的像素与线源的距离仅且同时存在d_i,j,k-M和-M≤d_i,j,k≤0的像素，则获取与线源距离为-M的位置点的计数值C_L,i,j；然后采用最近邻插值的方法确定|d_i,j,k|M的像素的计数值，得到第i层第j个角度下的偶然符合与散射符合计数值C_r+s,i,j；

d)如果第i层第j个角度下的像素与线源的距离仅且同时存在d_i,j,kM和0≤d_i,j,k≤M的像素；则获取与线源距离为M的位置点的计数值C_R,i,j，然后采用最近邻插值的方法确定|d_i,j,k|M的像素的计数值，得到第i层第j个角度下的偶然符合与散射符合计数值C_r+s,i,j；

e)如果第i层第j个角度下的像素与线源的距离存在d_i,j,k＝M，也存在d_i,j,k＝-M，其余距离绝对值均小于M；则获取第i层第j个角度下与线源距离为-M和M的位置点的计数值C_L,i,j与C_R,i,j，然后采用最近邻插值的方法确定|d_i,j,k|M的像素的计数值，得到第i层第j个角度下的偶然符合与散射符合计数值C_r+s,i,j；

f)如果第i层第j个角度下的像素与线源的距离存在d_i,j,k＝-M且不存在d_i,j,k＝M，其余距离绝对值均小于M；则获取与线源距离为-M的位置点的计数值C_L,i,j，然后采用最近邻插值的方法确定|d_i,j,k|M的像素的计数值，得到第i层第j个角度下的偶然符合与散射符合计数值C_r+s,i,j；

g)如果第i层第j个角度下的像素与线源的距离存在d_i,j,k＝M且不存在d_i,j,k＝-M，其余距离绝对值均小于M；则获取与线源距离为M的位置点的计数值C_R,i,j，然后采用最近邻插值的方法确定|d_i,j,k|M的像素的计数值，得到第i层第j个角度下的偶然符合与散射符合计数值C_r+s,i,j；

h)如果第i层第j个角度下的像素与线源的距离存在d_i,j,k0，也存在d_i,j,k0，且所有距离绝对值均小于M；则获取与线源距离为M和–M的位置点的计数值C_L,i,j与C_R,i,j，然后采用最近邻插值的方法确定|d_i,j,k|M的像素的计数值，得到第i层第j个角度下的偶然符合与散射符合计数值C_r+s,i,j；

i)如果第i层第j个角度下的像素数目≥N个，且所有像素与线源的距离均满足-Md_i,j,k≤0；则获取与线源距离为–M的位置点的计数值C_L,i,j，然后采用最近邻插值的方法确定|d_i,j,k|M的像素的计数值，得到第i层第j个角度下的偶然符合与散射符合计数值C_r+s,i,j；

j)如果第i层第j个角度下的像素数目≥N个，且所有像素与线源的距离均满足0≤d_i,j,kM；则获取与线源距离为M的位置点的计数值C_R,i,j，然后采用最近邻插值的方法确定|d_i,j,k|M的像素的计数值，得到第i层第j个角度下的偶然符合与散射符合计数值C_r+s,i,j；

k)如果第i层第j个角度下有(N’-1)个像素，且该(N’-1)个像素与线源的距离均满足0≤d_i,j,kM或-Md_i,j,k≤0，N’小于设定阈值；则第i层第j个角度下的偶然符合与散射符合计数值C_r+s,i,j＝0。