[发明专利]集成电路设计方法和计算机可读存储介质

权利要求书

1.一种集成电路设计方法，用于给标准单元添加隔离约束，其特征在于，所述集成电路设计方法包括：

计算集成电路中指定区域内每个标准单元的端口密度；

选择端口密度在预定范围内的标准单元；

针对所选择的标准单元添加隔离约束,

其中，所述针对所选择的标准单元添加隔离约束包括：

针对每个所选择的标准单元；

根据该标准单元的面积、端口个数、端口密度以及单体的高度和宽度，计算针对该标准单元要添加的隔离约束的个数；

在该标准单元的相对两侧添加隔离约束。

2.根据权利要求1所述的集成电路设计方法，其特征在于，所述计算集成电路中指定区域内每个标准单元的端口密度包括：

根据所述标准单元的单体宽度和单体高度计算单体面积；

根据所述标准单元的面积和所述单体面积计算所述标准单元内的单体个数；

通过将所述标准单元的端口个数除以所述标准单元内的单体个数得到所述标准单元的端口密度。

3.根据权利要求1所述的集成电路设计方法，其特征在于，所述计算集成电路中指定区域内每个标准单元的端口密度包括：

通过将所述标准单元的端口个数除以所述标准单元的面积得到所述标准单元的端口密度。

4.根据权利要求1所述的集成电路设计方法，其特征在于，在所述计算集成电路中指定区域内每个标准单元的端口密度之后，还包括：

根据每个标准单元的端口密度计算该标准单元的端口疏度。

5.根据权利要求4所述的集成电路设计方法，其特征在于，所述选择端口密度在预定范围内的标准单元包括：

选择端口疏度小于预设阈值的标准单元。

6.根据权利要求1所述的集成电路设计方法，其特征在于，所述根据该标准单元的面积、端口个数、端口密度的阈值以及单体的高度和宽度，计算针对该标准单元要添加的隔离约束的个数包括：

根据以下等式计算针对该标准单元要添加的隔离约束的个数：

其中N_km表示要添加的隔离约束的个数，N_p表示标准单元的端口个数，δ_th表示标准单元的端口疏度的阈值，S_c表示标准单元的面积，W_u表示单体宽度，H_u表示单体高度。

7.根据权利要求6所述的集成电路设计方法，其特征在于，还包括：在计算出的隔离约束的个数不为整数的情况下，将计算出的隔离约束通过四舍五入的方式转换成整数。

8.根据权利要求1所述的集成电路设计方法，其特征在于，所述在该标准单元的相对两侧添加隔离约束包括：

计算该标准单元的中线两侧的端口个数；

根据该标准单元的中线两侧的端口个数，在该标准单元的所述中线两侧分别添加隔离约束。

9.根据权利要求8所述的集成电路设计方法，其特征在于，所述计算该标准单元的中线两侧的单体个数包括：

根据该标准单元的位置坐标、面积和单体高度来计算该标准单元的中线位置；

根据该标准单元的中线位置以及该标准单元的各端口位置，来计算该标准单元中线两侧的端口个数。

10.根据权利要求8所述的集成电路设计方法，其特征在于，所述根据该标准单元的中线两侧的端口个数，在该标准单元的所述中线两侧分别添加隔离约束包括：

计算该标准单元的中线两侧的端口个数的差值绝对值；

如果针对该标准单元要添加的隔离约束的个数大于所述差值绝对值，则将所述差值绝对值数目的隔离约束添加在该标准单元的中线两侧当中端口个数较大的一侧，其余隔离约束均匀添加在该标准单元的中线两侧；

如果针对该标准单元要添加的隔离约束的个数小于等于所述差值绝对值，则将全部隔离约束添加在该标准单元的中线两侧当中端口个数较大的一侧。

11.一种计算机可读存储介质，用于存储指令，所述指令在被处理器执行时使处理器执行根据权利要求1至10中任一项所述的集成电路设计方法。