[发明专利]基于AOI系统的适应不同面板缺陷自动判等方法和系统

说明书

本发明公开了一种基于AOI系统的适应不同面板缺陷自动判等方法和装置，所述方法包括步骤：1)AOI系统对待测面板进行取像、检测，生成检测结果；2)对检测结果进行解析、分类；3)对检测结果进行不检区过滤；4)对检测结果中的缺陷通过单一规则过滤；5)对检测结果中的缺陷进行复合规则过滤，分析缺陷之间的位置关联性；6)将符合规则的所有缺陷进行归类汇总，生成最终缺陷检测报告，上传至客户存储系统。所述系统包括：包括AOI硬件平台、取像服务器PC、运算服务器PC和客户数据存储服务器。不同的厂家客户通过使用本发明自动判等方法及系统，可以对AOI检测结果按照厂家客户制定的规则进行分析，输出符合不同厂家客户自己的需求结果。

技术领域

本发明涉及自动光学检测技术领域，具体地指一种基于AOI系统的适应不同面板缺陷自动判等方法和系统。

背景技术

在现有的自动光学检测(Automatic Optic Inspection，AOI)系统下，不同的厂家客户对AOI系统的检出结果数据需要进行分析判断，并且不同的厂家客户的需求判断均不一样。为了满足不同客户的需求，需要一种能够对不同厂家客户的AOI系统需求规则进行分析的通用方法及框架系统，让各个客户根据自己的需求去制定规则，然后该通用框架通过运用客户制定的规则对面板的缺陷进行分析并输出相应的面板等级。

发明内容

针对现有技术的不足，本发明的目的是提供一种基于AOI系统的适应不同面板缺陷自动判等方法和系统，不同的厂家客户通过使用该自动判等方法及系统，可以通过对AOI检测结果按照厂家客户制定的规则进行分析，输出符合不同厂家客户自己的需求结果。

为实现上述目的，本发明所设计的一种基于AOI系统的适应不同面板缺陷自动判等方法，其特殊之处在于，包括如下步骤：

包括如下步骤：

1)AOI系统对待测面板进行取像、检测，生成检测结果；

2)对检测结果进行解析、分类；

3)对检测结果进行不检区过滤；

4)对检测结果中的缺陷通过单一规则过滤；

5)对检测结果中的缺陷进行复合规则过滤，分析缺陷之间的位置关联性；

6)将符合规则的所有缺陷进行归类汇总，生成最终缺陷检测报告，上传至客户存储系统。

优选地，所述步骤2)中对检测结果进行解析、分类，检测结果中每个缺陷包含以下信息：缺陷类型、缺陷检出画面、缺陷坐标、缺陷面积大小、缺陷长度和宽度、缺陷对比度、缺陷灰度值、缺陷圆形度、缺陷方差、缺陷锐利度。

优选地，所述步骤3)中不检区过滤为对检测结果中一个缺陷的缺陷类型、缺陷检出画面、缺陷坐标、缺陷长度和宽度四个条件与设定值相同时，将该缺陷过滤删除。

优选地，所述步骤4)中单一规则过滤为通过对检测结果中一个缺陷的单一信息与客户规定的该信息的要求值进行比较，将不符合条件的缺陷删除，将符合条件的缺陷按照客户要求进行命名与编码，所述缺陷的单一信息包括检出画面、检出逻辑类型、位置、大小、形状、强度、灰度值、区域对比度、圆形度、锐利度、方差。

优选地，所述步骤5)中复合规则过滤为通过对检测结果中所有缺陷与客户规定的复合规则进行比较，将不符合条件的缺陷删除，将符合条件的缺陷按照客户要求进行命名与编码。

优选地，所述步骤6)中将符合规则的所有缺陷进行归类汇总时，进行缺陷数量卡控过滤、缺陷优先级卡控过滤、缺陷去重卡控过滤、缺陷严重程度比较筛选，最后得到筛选过滤后的缺陷，生成最终缺陷检测报告。

本发明还提出一种实现上述基于AOI系统的适应不同面板缺陷自动判等方法的系统，其特殊之处在于，包括AOI硬件平台、取像服务器PC、运算服务器PC和客户数据存储服务器；