[发明专利]一种测试点生成方法及装置

说明书

本申请实施例提供了一种测试点生成方法及装置，方法包括：获得功能需求的测试点描述，并将所述测试点描述中的测试关键字作为第一类测试关键字；根据测试关键字与实现参数的预设对应关系，获得每一第一类测试关键字的实现参数；以由第一类测试关键字的实现参数形成的各个目标实现参数分别替换所述测试点描述中的测试关键字，生成与所述目标实现参数对应的第一测试点，所述目标实现参数包括：组合实现参数和/或独立实现参数，一个组合实现参数中包括：至少两个第一类测试关键字中每一测试关键字的一个实现参数，一个独立实现参数中包括：一个第一类测试关键字的一个实现参数。应用本申请实施例提供的方案生成测试点能够提高测试点的生成效率。

技术领域

本申请涉及软件测试技术领域，特别是涉及一种测试点生成方法及装置。

背景技术

开发人员在开发过程中会开发出各种各样的功能，为保证最终向用户提供的功能正确，开发人员开发出各种功能后，需要测试人员对这个功能进行测试。

现有技术中，对功能进行测试时，一般先针对待测试功能生成测试点，然后采用上述生成的测试点进行测试。然而在生成测试点时，一般是测试人员通过手动方式生成的，这样生成测试点时易受测试人员工作经验、工作安排等因素的影响，导致测试点生成效率低。

发明内容

本申请实施例的目的在于提供一种测试点生成方法及装置，以提高测试点生成效率。具体技术方案如下：

本申请实施例公开了一种测试点生成方法，所述方法包括：

获得功能需求的测试点描述，并将所述测试点描述中的测试关键字作为第一类测试关键字；

根据测试关键字与实现参数的预设对应关系，获得每一第一类测试关键字的实现参数；

以由第一类测试关键字的实现参数形成的各个目标实现参数分别替换所述测试点描述中的测试关键字，生成与所述目标实现参数对应的第一测试点，所述目标实现参数包括：组合实现参数和/或独立实现参数，一个组合实现参数中包括：至少两个第一类测试关键字中每一测试关键字的一个实现参数，一个独立实现参数中包括：一个第一类测试关键字的一个实现参数。

本申请实施例公开了一种测试点生成装置，所述装置包括：

信息获得模块，用于获得功能需求的测试点描述，并将所述测试点描述中的测试关键字作为第一类测试关键字；

参数获得模块，用于根据测试关键字与实现参数的预设对应关系，获得每一第一类测试关键字的实现参数；

第一测试点生成模块，用于以由第一类测试关键字的实现参数形成的各个目标实现参数分别替换所述测试点描述中的测试关键字，生成与所述目标实现参数对应的第一测试点，所述目标实现参数包括：组合实现参数和/或独立实现参数，一个组合实现参数中包括：至少两个第一类测试关键字中每一测试关键字的一个实现参数，一个独立实现参数中包括：一个第一类测试关键字的一个实现参数。

本申请实施例公开了一种电子设备，包括处理器和机器可读存储介质，所述机器可读存储介质存储有能够被所述处理器执行的机器可执行指令，所述处理器被所述机器可执行指令促使：实现本申请实施例公开的所述测试点生成方法步骤。

本申请实施例公开了一种机器可读存储介质，存储有机器可执行指令，在被处理器调用和执行时，所述机器可执行指令促使所述处理器：实现本申请实施例公开的所述测试点生成方法步骤。