[发明专利]调色剂有效

专利信息
申请号: 201810253735.3 申请日: 2013-12-27
公开(公告)号: CN108681217B 公开(公告)日: 2021-09-10
发明(设计)人: 阿部浩次;矶野直也;桂大侍;照井雄平;野中克之 申请(专利权)人: 佳能株式会社
主分类号: G03G9/08 分类号: G03G9/08;G03G9/087;G03G9/093;G03G9/097
代理公司: 北京魏启学律师事务所 11398 代理人: 魏启学
地址: 日本东京都大*** 国省代码: 暂无信息
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摘要:
搜索关键词: 调色
【权利要求书】:

1.一种调色剂,其特征在于,其包含:各自包括含有有机硅聚合物的表面层的调色剂颗粒,所述有机硅聚合物包括由下式(1)或(2)表示的单元:

在式(2)中,L表示亚甲基、亚乙基或亚苯基,

其中,在通过对所述调色剂颗粒的THF不溶成分进行的29Si-NMR测量得到的图中,归属于由下式(Q3)表示的结构的峰面积与所述有机硅聚合物的总峰面积的比率SQ3满足以下数学式(3):

RF-SiO3/2 (Q3)

在式(Q3)中,RF表示由下式(i)至(iv)表示的结构之一:

CH2=CH-* (i)

CH2=CH-L-* (ii)

在式(i)至(iv)中,*表示键合到硅原子的键合部,在式(ii)和(iv)中,L独立地表示亚甲基、亚乙基或者亚苯基,和

SQ3≥0.40 (3),

其中相对于在所述调色剂颗粒的表面上进行的光电子能谱法测定的硅浓度dSi、氧浓度dO和碳浓度dC的总和即dSi+dO+dC,在所述调色剂颗粒的表面的调色剂的硅浓度dSi为2.5原子%以上,和

其中

通过用透射电子显微镜观察所述调色剂颗粒的截面而测量的所述表面层的平均厚度Dav.为5.0nm以上且150.0nm以下,和

表面层厚度为5.0nm以下的百分比为20.0%以下,其中,所述表面层厚度的百分比通过以下步骤来测定,

(i)用透射电子显微镜观察圆当量直径在所述调色剂的重均粒径的±10%范围内的10个调色剂颗粒,

(ii)在各所述截面上,绘出16条直线延伸横跨截面,以使:

全部直线穿过作为截面的最大直径的长轴L的中点,和

全部交叉角均等,即,全部交叉角均为11.25°,

(iii)在从所述中点延伸到所述调色剂颗粒的表面的所得32条线段上,测量各所述线段与所述表面层重叠的长度,并且计数所述长度为5.0nm以下的线段的数目,

(iv)将所得线段数目除以32,然后使得数乘以100来获得百分比值,

(v)通过使用各10个调色剂颗粒的各百分比值推导出算术平均值以获得所述表面层厚度的百分比。

2.根据权利要求1所述的调色剂,其中在通过对所述调色剂颗粒的THF不溶成分进行的29Si-NMR测量得到的图中,所述比率SQ3和归属于由下式(Q2)表示的结构的峰面积与所述有机硅聚合物的总峰面积的比率SQ2满足以下数学式(4):

在式(Q2)中,RG和RH各自独立地表示选自由上述式(i)至(iv)表示的结构的至少一种,和

(SQ3/SQ2)≥1.00 (4)。

3.根据权利要求1或2所述的调色剂,其中所述有机硅聚合物通过将含有由下式(Z)表示的化合物的可聚合单体聚合而获得:

在式(Z)中,R1表示由式(i)或(ⅱ)表示的结构,并且R2、R3和R4各自独立地表示卤素原子、羟基或烷氧基。

4.根据权利要求3所述的调色剂,其中式(Z)中的R1表示乙烯基或烯丙基。

5.根据权利要求3所述的调色剂,其中式(Z)中的R2、R3和R4各自独立地表示烷氧基。

6.根据权利要求3所述的调色剂,其中所述调色剂颗粒通过由含有着色剂和所述可聚合单体的可聚合单体组合物在水系介质中形成颗粒,并聚合所述可聚合单体而生产。

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