[发明专利]用于向样本检测器提供样本的装置及用于检测样本的系统

说明书

提供一种用于向样本检测器提供样本的装置及用于检测样本的系统，所述装置包括：样本接收端口；以及入口组件，该入口组件被配置成位于所述样本接收端口附近，该入口组件限定了用于接收样本的容体并包括提取端口，该提取端口被配置用于提取第一流体流以促进第二流体流流向所述样本接收端口；其中所述入口组件还包括幕帘端口，该幕帘端口被配置成与所述样本接收端口和所述提取端口分离以供应第三流体流从而促进所述第二流体流流向所述样本接收端口。

本申请是申请日为2013年09月20日、申请号为201380049361.9、名称为“样本探测入口流系统”的中国发明专利申请的分案申请。

背景技术

离子迁移率频谱测定法指的是能够用来分离并识别电离材料(诸如分子和原子)的分析技术。能够基于载体缓冲气体中的迁移率来在气相中识别电离材料。因此，离子迁移率频谱仪(IMS)能够通过对材料进行电离并测量所得到的离子到达检测器所花费的时间来从感兴趣的样本中识别材料。离子的渡越时间与离子迁移率有关，离子迁移率与已经电离的材料的质量和几何尺寸有关。IMS检测器的输出能够可视地被表示为峰值高度相对漂移时间的频谱。在一些实例中，IMS检测在升高的温度(例如，高于100摄氏度(100℃))下执行。在其他实例中，IMS检测能够在不加热的情况下执行。IMS检测能够用于军事和安全应用，例如以检测毒品(drug)、爆炸物等。IMS检测还能够用于实验室分析应用，并且能够与诸如质量频谱测定法、液体色谱分析法等补偿检测技术一起使用。

发明内容

描述了使用提取端口将流体流导向样本接收端口的系统和技术。例如，装置包括样本接收端口和被配置成位于样本接收端口附近的入口组件。入口组件限定了用于接收样本的容体(volume)并且包括限定了被配置成位于样本接收端口附近的提取端口的间隙。提取端口被配置成提取一种流体流以促进另一种流体流流向样本接收端口。提取端口能够被配置为在样本接收端口周围的环形流端口。在一些实例中，该装置还包括与样本接收端口和提取端口分离的幕帘端口(curtain port)。该幕帘端口能够用于将流体引导着离开入口组件的内表面并将流体引导向样本接收端口，和/或用于提供受控空气环境，和/或用于将样本接收端口与外部污染源隔离。

提供该发明内容以通过简化形式介绍部分概念，以下将在具体实施方式部分中对该概念进行进一步的说明。该发明内容并非意欲认定所要求保护的主题的关键特征或必要特征，也非意欲用于助于确定所要求保护的主题的范围。

附图说明

将参照附图进行详细描述。在附图中，参考标号的最左侧数字用于识别参考标号首次出现的附图。说明书和附图中，不同实例中相同参考标号的使用可以指示类似或相同的项。

图1A是示出了根据本公开示例性实施方式的入口组件的局部剖面侧视图，入口组件包括位于采样针孔附近的提取端口和与提取端口分离的幕帘端口，其中，样本探测器位于入口组件内。

图1B是示出了根据本公开示例性实施方式的入口组件的局部剖面侧视图，入口组件包括位于采样针孔附近的提取端口，其中样本探测器位于入口组件内。

图1C是示出了根据本公开示例性实施方式的入口组件的局部剖面侧视图，入口组件包括位于采样针孔附近的提取端口和与提取端口分离的幕帘端口，其中，入口组件在蒸汽采样配置中使用。

图1D是示出了根据本公开示例性实施方式的入口组件的局部剖面侧视图，入口组件包括位于采样针孔附近的提取端口，其中入口组件在蒸汽采样配置中使用。

图2A是根据本公开示例性实施方式的、包括可操作地与样本检测器的排气模块相耦合的控制器的系统的示意图，其中，该控制器能够用于控制排气模块的操作以便于样本探测配置和蒸汽采样配置中的一者或多者中样本检测器的入口的操作。

图2B是根据本公开示例性实施方式的、包括可操作地与样本检测器相耦合的控制器的系统的示意图，其中，该控制器能够用于控制排气模块的操作以操作样本探测配置和蒸汽采样配置中的一者或多者中的样本检测器。

具体实施方式