[发明专利]一种便携式果蔬内部腐烂变质检测装置及其检测方法有效

专利信息
申请号: 201810252607.7 申请日: 2018-03-26
公开(公告)号: CN108827883B 公开(公告)日: 2019-11-15
发明(设计)人: 彭彦昆;李龙;马小卫 申请(专利权)人: 中国农业大学
主分类号: G01N21/25 分类号: G01N21/25
代理公司: 11002 北京路浩知识产权代理有限公司 代理人: 王莹;吴欢燕<国际申请>=<国际公布>=
地址: 100193*** 国省代码: 北京;11
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摘要:
搜索关键词: 果蔬 果蔬内部 检测装置 腐烂 光谱分析器件 传导器件 光谱信号 容纳空间 支撑结构 变质 控制柜 光谱 上下往复运动 设备技术领域 光照结构 果蔬检测 检测结果 内部构造 电连接 检测 便携 传导 照射
【权利要求书】:

1.一种便携式果蔬内部腐烂变质检测装置,其特征在于,包括:

箱体,在所述箱体的内部构造有容纳空间;

设置在所述容纳空间中并用于照射待测果蔬的光照结构;

设置在所述箱体的内部并能够沿所述箱体的纵向进行上下往复运动的果蔬支撑结构;

设置在所述箱体的内部并位于所述果蔬支撑结构的下方的光谱传导器件,用于传导待测果蔬中的光谱信号;

设置在所述箱体的内部并与所述光谱传导器件连接的光谱分析器件,用于获得待测果蔬中的光谱信号;以及

控制柜,所述控制柜与所述光谱分析器件电连接;

在所述箱体的内壁上分别设有第一纵向滑轨和第二纵向滑轨,其中,所述第一纵向滑轨与所述第二纵向滑轨呈相对式设置,在所述第一纵向滑轨的底壁上设有第一弹性部件,在所述第二纵向滑轨的底壁上设有第二弹性部件;

所述果蔬支撑结构包括第一环形果蔬支撑体、设置在所述第一环形果蔬支撑体的第一端的第一连接件以及设置在所述第一环形果蔬支撑体的第二端的第二连接件,其中,所述第一连接件搭接在所述第一弹性部件上并能够沿所述第一纵向滑轨的纵向进行上下往复运动,所述第二连接件搭接在所述第二弹性部件上并能够沿所述第二纵向滑轨的纵向进行上下往复运动。

2.根据权利要求1所述的便携式果蔬内部腐烂变质检测装置,其特征在于,所述光照结构包括设置在所述箱体的内壁上的环形光照支撑座、设置在所述环形光照支撑座的内侧面的灯座以及设置在所述灯座上的照明部件。

3.根据权利要求2所述的便携式果蔬内部腐烂变质检测装置,其特征在于,在所述环形光照支撑座的外侧面沿周向呈间隔式构造有多个凹口,在所述箱体的内壁上沿周向呈间隔式构造有多个定位凸件,其中,各个所述定位凸件均与其相对设置的所述凹口过盈配合。

4.根据权利要求1所述的便携式果蔬内部腐烂变质检测装置,其特征在于,在所述箱体的底壁的上表面设有光谱传导器件支撑架,所述光谱传导器件支撑架包括左侧板、顶板以及右侧板,其中,在所述顶板上构造有能够容纳所述光谱传导器件的通孔。

5.根据权利要求4所述的便携式果蔬内部腐烂变质检测装置,其特征在于,所述便携式果蔬内部腐烂变质检测装置还包括设置在所述顶板的上方的果蔬限位部件。

6.根据权利要求5所述的便携式果蔬内部腐烂变质检测装置,其特征在于,所述果蔬限位部件到所述顶板之间的距离的大小范围为大于等于1厘米且小于等于1.5厘米。

7.根据权利要求5所述的便携式果蔬内部腐烂变质检测装置,其特征在于,所述果蔬限位部件包括第二环形果蔬支撑体、设置在所述第二环形果蔬支撑体的第一端的第三连接件以及设置在所述第二环形果蔬支撑体的第二端的第四连接件。

8.根据权利要求1所述的便携式果蔬内部腐烂变质检测装置,其特征在于,所述便携式果蔬内部腐烂变质检测装置还包括设置在所述箱体的上边沿的遮光结构。

9.根据权利要求8所述的便携式果蔬内部腐烂变质检测装置,其特征在于,所述遮光结构包括嵌设在所述箱体的内侧面的下环状体和设置在所述下环状体的上边沿的上环状体,其中,在所述上环状体和所述下环状体相连接的部位构造有能够搭接在所述箱体的上边沿的台阶;

在所述上环状体的外侧面设有能够搭接在所述控制柜的上端面的定位凸台。

10.根据权利要求9所述的便携式果蔬内部腐烂变质检测装置,其特征在于,在所述上环状体的上边沿构造有朝所述上环状体的中心区域延伸出的柔性遮盖体。

11.一种利用上述权利要求1至10中任一项所述的便携式果蔬内部腐烂变质检测装置实施的便携式果蔬内部腐烂变质检测方法,其特征在于,包括:

对待测果蔬的光谱信息进行预处理;

对待测果蔬的内部损伤情况进行判断并根据判断结果对所述待测果蔬进行相应的处理。

12.根据权利要求11所述的方法,其特征在于,在对待测果蔬的内部损伤情况进行判断并根据判断结果对所述待测果蔬进行相应的处理的步骤中,所述待测果蔬的光谱斜率、光谱强度以及光谱比值均构建为待测果蔬内部腐烂变质平衡方程;

所述待测果蔬内部腐烂变质平衡方程为

其中,Mean为860纳米到870纳米波段处的光谱强度;K为800纳米处的光谱斜率;I为860纳米到870纳米波段的透射率均值与815纳米处的光谱比值;spe为控制器所采集到的透射率光谱;n为第n个波长点。

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