[发明专利]一种转移膜涂层干凃量的测量方法

权利要求书

1.一种转移膜涂层干凃量的测量方法，其特征在于，包括：

根据转移膜的整体尺寸，确定胶带的单元面积；

称量所述单元面积的胶带的重量，并记作初始重量；

将所述单元面积的胶带粘覆于所述转移膜带有涂层的一侧；

从所述转移膜上揭开所述单元面积的胶带，将粘有所述涂层的所述单元面积的胶带记作测量胶带；

称量所述测量胶带的重量，并记作测量重量；

计算所述测量重量与所述初始重量的差值，并记作干凃量。

2.根据权利要求1所述的测量方法，其特征在于，所述胶带的单元面积为1平方分米。

3.根据权利要求1所述的测量方法，其特征在于，所述将单元面积的胶带粘覆于转移膜带有涂层的一侧，还包括以下步骤：

获取所述单元面积的胶带的信息，所述信息包括：胶带尺寸和胶带形状；

在所述转移膜带有涂层的一侧设置与所述信息相适应的断点；

将所述单元面积的胶带的边缘与所述断点相重合；

将所述单元面积的胶带粘覆于所述转移膜带有涂层的一侧。

4.根据权利要求1所述的测量方法，其特征在于，所述测量方法还包括：

采用尺寸及形状与所述单元面积的胶带相适应的平面模具将所述单元面积的胶带压实于所述转移膜带有涂层的一侧。

5.根据权利要求1所述的测量方法，其特征在于，所述测量方法还包括：

所述单元面积的胶带采用单面带有黏性的胶带。

6.根据权利要求1所述的测量方法，其特征在于，所述测量方法还包括：

所述胶带的总面积大于所述单元面积；

所述胶带的总面积与所述单元面积的差值部分不具有黏性。

7.根据权利要求1所述的测量方法，其特征在于，所述测量方法还包括：

根据所述转移膜的尺寸及形状，选取若干测量点；

针对各所述测量点，均采用所述测量方法测量干凃量；

根据各所述测量点的干凃量，分析所述转移膜的涂层的厚度变化趋势。