[发明专利]平均故障间隔时间的测试方法及计算机可读存储介质

说明书

本发明公开了一种平均故障间隔时间的测试方法及计算机可读存储介质，方法包括：预设测试项，并生成对应的测试脚本；选取数量为测试项个数的待测设备，并将预设的测试时长以及各测试脚本一一对应地发送给各待测设备；收集各待测设备执行各自对应的测试脚本的日志数据；根据所述日志数据，分别获取各待测设备的无响应次数和崩溃次数；根据所述测试时长、无响应次数和崩溃次数，计算得到平均故障间隔时间。本发明可降低测试成本，缩短测试时间，提高测试效率和准确率。

技术领域

本发明涉及软件测试技术领域，尤其涉及一种平均故障间隔时间的测试方法及计算机可读存储介质。

背景技术

平均故障间隔时间又称平均无故障时间，英文全称是“Mean Time BetweenFailure”，指可修复产品两次相邻故障之间的平均时间，记为MTBF。MTBF是衡量一个产品的可靠性指标。单位为“小时”。它反映了产品的时间质量，是体现产品在规定时间内保持功能的一种能力。

概括地说，产品故障少的就是可靠性高，同时也规定产品在使用阶段累计工作时间与故障次数的比值为MTBF。现实中我们要测量出平均故障间隔时间，需要投入大量的人力物力来进行人为模拟，但人为模拟运用产品的实际情况耗时耗力耗成本，且疲劳等因素还会影响测试结果的正确性。

发明内容

本发明所要解决的技术问题是：提供一种平均故障间隔时间的测试方法及计算机可读存储介质，可提高平均故障间隔时间的测试效率和测试准确率。

为了解决上述技术问题，本发明采用的技术方案为：一种平均故障间隔时间的测试方法，包括：

预设测试项，并生成对应的测试脚本；

选取数量为测试项个数的待测设备，并将预设的测试时长以及各测试脚本一一对应地发送给各待测设备；

收集各待测设备执行各自对应的测试脚本的日志数据；

根据所述日志数据，分别获取各待测设备的无响应次数和崩溃次数；

根据所述测试时长、无响应次数和崩溃次数，计算得到平均故障间隔时间。

本发明还涉及一种计算机可读存储介质，其上存储有计算机程序，所述程序被处理器执行时实现以下步骤：

预设测试项，并生成对应的测试脚本；

选取数量为测试项个数的待测设备，并将预设的测试时长以及各测试脚本一一对应地发送给各待测设备；

收集各待测设备执行各自对应的测试脚本的日志数据；

根据所述日志数据，分别获取各待测设备的无响应次数和崩溃次数；

根据所述测试时长、无响应次数和崩溃次数，计算得到平均故障间隔时间。

本发明的有益效果在于：通过对规模化设备同时进行测试，可以大幅降低成本；通过使应用同时对不同的指定场景进行重复性能测试，能够大幅降低不合格率，缩短测试时间，提高测试效率；通过平均故障间隔时间算法为衡量产品可靠性提供指标。本发明通过简单配置即可实现自动化的测试，可降低使用者门槛，大大简化Android设备上的软件性能测试，可节约人力物力，提高测试效率的同时，也保证了测试准确率。

附图说明

图1为本发明一种平均故障间隔时间的测试方法的流程图；

图2为本发明实施例一的方法流程图。

具体实施方式

为详细说明本发明的技术内容、所实现目的及效果，以下结合实施方式并配合附图详予说明。