[发明专利]对定位系统进行上量测试的方法及装置

权利要求书

1.一种对定位系统进行上量测试的方法，其特征在于，包括如下步骤：

根据预设的激励替代规则信息，将第二预设数量的随机终端的测量量中，第一预设数量的所述随机终端的测量量替代为先知终端的测量量，得到第二预设数量的融合测量量并输入定位系统；其中，所述第一预设数量小于所述第二预设数量；

接收所述定位系统输出的对应所述融合测量量的各个定位计算结果；

根据所述激励替代规则信息、各个所述定位计算结果和各个参考信息进行统计，得到上量测试的结果；其中，所述参考信息包括构建所述先知终端的测量量时，对应确定的所述先知终端的参考位置及先知定位精度分布。

2.根据权利要求1所述的对定位系统进行上量测试的方法，其特征在于，根据预设的激励替代规则信息，将第二预设数量的随机终端的测量量中，第一预设数量的所述随机终端的测量量替代为先知终端的测量量，得到第二预设数量的融合测量量并输入定位系统的步骤前，还包括步骤：

构建第一预设数量的所述先知终端的测量量，并确定所述先知终端的测量量对应的所述参考信息；

构建第二预设数量的所述随机终端的测量量，并确定所述随机终端的测量量的固定编号；其中，所述固定编号用于保持所述随机终端在上量测试过程中的固定状态。

3.根据权利要求1或2所述的对定位系统进行上量测试的方法，其特征在于，根据预设的激励替代规则信息，将第二预设数量的随机终端的测量量中，第一预设数量的所述随机终端的测量量替代为先知终端的测量量，得到第二预设数量的融合测量量并输入定位系统的步骤，包括：

分别在各个时段内，根据所述激励替代规则信息，将第一预设数量的所述随机终端的测量量替代为第一预设数量的所述先知终端的测量量，分别得到各所述第二预设数量的融合测量量并输入所述定位系统。

4.根据权利要求3所述的对定位系统进行上量测试的方法，其特征在于，根据所述激励替代规则信息、各个所述定位计算结果和各个参考信息进行统计，得到上量测试的结果的步骤，包括：

分别根据所述激励替代规则信息，获取各个所述时段内各个所述定位计算结果中，对应各个所述先知终端的测量量的定位计算结果；

根据各个所述时段内的各个所述参考信息，以及各个所述先知终端的测量量的定位计算结果进行统计，得到所述上量测试的结果。

5.根据权利要求4所述的对定位系统进行上量测试的方法，其特征在于，根据各个所述时段内的各个所述参考信息，以及各个所述先知终端的测量量的定位计算结果进行统计，得到所述上量测试的结果的步骤，包括：

分别根据各个所述时段内的各个所述参考信息，以及各个所述先知终端的测量量的定位计算结果进行统计，得到各个所述时段内的各个所述上量测试的结果。

6.根据权利要求4所述的对定位系统进行上量测试的方法，其特征在于，根据各个所述时段内的各个所述参考信息，以及各个所述先知终端的测量量的定位计算结果进行统计，得到所述上量测试的结果的步骤，还包括：

分别根据各个所述时段内的各个所述参考信息，以及各个所述先知终端的测量量的定位计算结果进行统计，得到各个所述时段内各个所述先知终端的计算定位精度分布；

分别对各个所述先知终端在各个所述时段内的计算定位精度分布进行统计，得到各个所述先知终端在当前时段的统计定位精度分布；

分别将各个所述先知终端在当前时段的统计定位精度分布，与先知统计精度分布比较，得到当前时段的所述上量测试的结果；其中，所述先知统计精度分布为根据各个时段内的各个先知定位精度分布统计得到的先知统计精度分布。

7.根据权利要求1或2所述的对定位系统进行上量测试的方法，其特征在于，所述先知终端的测量量包括同一参考位置在不同时刻的测量量和/或各不同参考位置在不同时刻的测量量；其中，同一所述参考位置在不同时刻的所述测量量时间连续。