[发明专利]石墨烯垂直异质结器件及其制备方法有效
| 申请号: | 201810234998.X | 申请日: | 2018-03-21 |
| 公开(公告)号: | CN108470765B | 公开(公告)日: | 2021-07-23 |
| 发明(设计)人: | 李裴森;潘孟春;彭俊平;邱伟成;胡悦国;陈棣湘;胡佳飞;田武刚;张琦 | 申请(专利权)人: | 中国人民解放军国防科技大学 |
| 主分类号: | H01L29/739 | 分类号: | H01L29/739;H01L29/267;H01L21/331 |
| 代理公司: | 湖南兆弘专利事务所(普通合伙) 43008 | 代理人: | 张鲜 |
| 地址: | 410073 湖南*** | 国省代码: | 湖南;43 |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 石墨 垂直 异质结 器件 及其 制备 方法 | ||
1.一种石墨烯垂直异质结器件,包括石墨烯层,其特征在于,还包括第一异质层和具有贯穿孔的支撑基底,所述石墨烯层设于支撑基底表面,所述第一异质层位于贯穿孔中,所述第一异质层与石墨烯层物理结合构成第一异质结,还包括石墨烯层表面的第二异质层,所述第二异质层与石墨烯层物理结合构成第二异质结。
2.根据权利要求1所述的石墨烯垂直异质结器件,其特征在于,所示贯穿孔为圆孔或方型孔,所述圆孔直径为200nm~10μm,所述方型孔尺寸的长×宽为200nm~20μm×200nm~10μm,所述第一异质层为旋转倾斜镀膜法引入。
3.根据权利要求2所述的石墨烯垂直异质结器件,其特征在于,所述第一异质层为金属材料层、铁磁材料层、半导体材料层中的一种。
4.根据权利要求1~3任一项所述的石墨烯垂直异质结器件,其特征在于,所述第二异质层为金属材料层、铁磁材料层、半导体材料层中的一种。
5.一种如权利要求1~4任一项所述的石墨烯垂直异质结器件的制备方法,包括以下步骤:
(1)在支撑基底上开设垂直于支撑基底表面的贯穿孔;
(2)将悬浮石墨烯转移至支撑基底表面;
(3)采用生长法在支撑基底的贯穿孔中制备第一异质层。
6.根据权利要求5所述的石墨烯垂直异质结器件的制备方法,其特征在于,所述步骤(3)中,制备第一异质层的方法为真空镀膜法或化学气相沉积法。
7.根据权利要求6所述的石墨烯垂直异质结器件的制备方法,其特征在于,采用真空镀膜法制备所述第一异质层的过程中,所述支撑基底置于样品架上并随样品架旋转,旋转速率为20°/s~60°/s,入射到支撑基底被镀表面的粒子方向与支撑基底被镀表面的夹角为10°~30°,所述粒子为形成第一异质层材料的原子或分子。
8.根据权利要求5~7任一项所述的石墨烯垂直异质结器件的制备方法,其特征在于,还包括:
(4)采用生长法在石墨烯层表面制备第二异质层。
9.根据权利要求5~7任一项所述的石墨烯垂直异质结器件的制备方法,其特征在于,采用微纳米加工技术在支撑基底上开设贯穿孔。
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