[发明专利]电池片黑心检测方法在审
申请号: | 201810232650.7 | 申请日: | 2018-03-20 |
公开(公告)号: | CN108807206A | 公开(公告)日: | 2018-11-13 |
发明(设计)人: | 李华超;王小彬 | 申请(专利权)人: | 苏州巨能图像检测技术有限公司 |
主分类号: | H01L21/66 | 分类号: | H01L21/66 |
代理公司: | 暂无信息 | 代理人: | 暂无信息 |
地址: | 215300 江苏省苏*** | 国省代码: | 江苏;32 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 投影 电池片 电池片中心 图像中心 圆环 圆心 黑心缺陷 特征曲线 特征提取 检测 重合 二维 屏蔽 罩板 剔除 对准 分析 图像 分类 | ||
1.一种电池片黑心检测方法,其特征在于:包括如下步骤:
S1)对准:将电池片移到图像中心;
S2)剔除其他干扰;
S3)圆环投影;
S4)特征曲线提取;
S5)分类;
其中:
S3)的具体步骤如下:
D1)产生一副距离图像:中间20个像素为半径的圆,此圆的距离都为1;然后向外一个像素增加1,这样产生出距离图;
D2)从左到右,从上到下,开始扫描图像;
D3)将原始图像有效部分的灰度值累加到对应距离的数组下,同时记录累计的个数;
D4)扫描完成后,使用累计的个数进行归一化,生成归一化的投影曲线,完成了环形投影。
2.根据权利要求1所述的一种电池片黑心检测方法,其特征在于:S1)的具体步骤如下:
A1)对图像进行canny处理;
A2)分四边从外围向内部搜索,找到边缘点(即Canny图上非零点),找到即停止;
A3)找完边缘点后,分别对四条边进行直线拟合;
A4)求出四边形的四个交点;再对四个交点求平均,即得到电池片的中心;
A5)通过四条直线的平均值计算得到角度;有了中心和角度,再通过几何变换将电池片移到图像的中心,完成对准。
3.根据权利要求2所述的一种电池片黑心检测方法,其特征在于:其他类别的缺陷,也是黑色的;如果不剔除,会造成投影的曲线中包含了其他缺陷信息,造成黑心的信号会被减弱,因此需进行S2)步骤;
S2)的具体步骤如下:
B1)电池片中间有主栅线,在EL图像中是水平粗线;为了去除主栅的干扰,添加一个mask(罩板)图像;
B2)采用的是一个10x10的窗口,带着mask对图像进行均值平滑处理;
B3)处理后的平滑图像作为背景图像,原始图像和背景图像像素点进行比较,暗18%的认为是其他缺陷,不得参与环形投影;
B4)结合mask图像,产生最终可以投影的图像。
4.根据权利要求3所述的一种电池片黑心检测方法,其特征在于:S4)具体步骤如下:
F1)从曲线中本文提取了平均值、标准方差、最大梯度,最小梯度等特征;
F2)对曲线进行直线的拟合,提取出角度、与直线的偏差两个特征;
F3)进行平均灰度以及梯度特征空间的分布展示;
F4)分析特征,判断是否存在黑心缺陷。
5.根据权利要求4所述的一种电池片黑心检测方法,其特征在于:S5)为使用最简单的决策树进行分类。
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H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造