[发明专利]一种采集屏幕亮度和色度的方法及装置有效
申请号: | 201810229789.6 | 申请日: | 2018-03-20 |
公开(公告)号: | CN108470334B | 公开(公告)日: | 2020-10-30 |
发明(设计)人: | 田广;王中琦;李旭亮 | 申请(专利权)人: | 上海顺久电子科技有限公司 |
主分类号: | G06T7/00 | 分类号: | G06T7/00;G06T7/90 |
代理公司: | 北京中博世达专利商标代理有限公司 11274 | 代理人: | 申健 |
地址: | 201203 上海市浦*** | 国省代码: | 上海;31 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 采集 屏幕 亮度 色度 方法 装置 | ||
1.一种采集屏幕亮度和色度的方法,其特征在于,所述方法包括:
获取待测图像,所述待测图像包含拼接屏在当前灰阶下的图像;所述拼接屏包括M行N列的子屏单元,M和N均为大于或等于2的整数,所述子屏单元中存在显示有特征图卡的子屏单元和显示有纯色图卡的子屏单元,且每一行子屏单元或每一列子屏单元中至少有一个子屏单元显示有所述特征图卡;所述特征图卡包括K个测试图形,K为大于或等于4的整数,所述测试图形用于确定子屏单元的区域信息;所述特征图卡的背景颜色与所述测试图形的颜色不同,所述纯色图卡的背景颜色与所述测试图形的颜色不同;所述待测图像中的测试图形按照阵列分布,且每个特征图卡中包含相同数量的测试图形;
根据所述待测图像中每个像素点的测量值,确定每个像素点对应的检测参数;
将所述待测图像的像素点中,所述检测参数大于目标阈值的像素点确定为所述测试图形对应的像素点;
根据所述测试图形的像素点的位置信息,确定所述测试图形的中心位置信息;
根据所述中心位置信息,确定所述待测图像中显示有所述纯色图卡的子屏单元所处的区域信息;
根据所述区域信息,采集所述显示有所述纯色图卡的子屏单元的亮度和色度信息。
2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述根据所述中心位置信息,确定所述待测图像中显示有所述纯色图卡的子屏单元所处的区域信息,包括:
将每一行测试图形的中心位置进行连接,获得水平直线,并将每一列测试图形的中心位置进行连接,获得垂直直线;
获取所述水平直线和所述垂直直线在所述纯色图卡中的交点的位置信息;
根据所述纯色图卡中的交点的位置信息,确定显示有所述纯色图卡的子屏单元所处的区域信息。
3.根据权利要求2所述的方法,其特征在于,所述测试图形的像素点的位置信息包括横坐标和纵坐标,所述根据所述测试图形的像素点的位置信息,确定所述测试图形的中心位置信息,包括:
确定属于一个测试图形的像素点;
计算所述属于一个测试图形的像素点中的所有像素点的横坐标的平均值,纵坐标的平均值,并将所述横坐标的平均值和所述纵坐标的平均值确定为所述一个测试图形的中心位置信息。
4.根据权利要求1-3中任一项所述的方法,其特征在于,在所述将所述待测图像的像素点中,所述检测参数大于目标阈值的像素点确定为测试图形对应的像素点之前,还包括:
将所述待测图像的像素点中,所述检测参数大于备选阈值的像素点确定为所述测试图形的像素点;其中,所述备选阈值属于备选阈值区间中的任意值,所述备选阈值区间包括:自所述检测参数的最小值起按照预定步长增加至所述检测参数的最大值为止的所有值;
根据所述测试图形的像素点,确定所述测试图形之间的行分隔线和列分隔线,所述行分隔线和所述列分隔线交叉形成了至少一个网格;
统计所述至少一个网格中,每个包含所述测试图形的像素点的网格中像素点的数量;
计算平均值,所述平均值为所述测试图形的像素点的数量除以所有包含所述测试图形的像素点的网格数量;
计算所述平均值与每个包含所述测试图形的像素点的网格中像素点的数量的差值,并将所有差值中最大的差值确定为目标差值;
根据所述目标差值和所述平均值确定所述备选阈值对应的分数值;
将所述备选阈值区间包括的备选阈值中,所述分数值大于预设值的备选阈值确定为所述目标阈值。
5.根据权利要求4所述的方法,其特征在于,所述根据所述测试图形的像素点,确定所述测试图形之间的行分隔线和列分隔线,包括:
根据所述测试图形的像素点,将所述测试图形中的第一行测试图形进行去噪声与线性拟合,得到第一水平直线,并将最后一行测试图形进行去噪声与线性拟合,得到第二水平直线;
将所述测试图形中的第一列测试图形进行去噪声与线性拟合,得到第一垂直直线,并将最后一列测试图形进行去噪声与线性拟合,得到第二垂直直线;
根据所述第一水平直线和所述第二水平直线,以及所述待测图像中每一列测试图形的数量,确定所述测试图形之间的所述行分隔线;
根据所述第一垂直直线和所述第二垂直直线,以及所述待测图像中每一行测试图形的数量,确定所述测试图形之间的所述列分隔线。
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