[发明专利]用于测量机械构件位置的系统及用于测量机械构件位置的方法

权利要求书

1.用于测量机械构件位置的系统(1)，该系统(1)包括：

光学检测工具(2)，其被设计为设置在机械装置(100)的一个第一机械构件(101)上；

一个定位轨道(3)，其被设计为设置在所述机械装置(100)的一个第二机械构件(102)上，该第二机械构件能够相对于所述第一机械构件(101)运动；

所述定位轨道(3)设有至少一个沿测量方向(W)一个接一个放置多个区段(5)的连续段(4)，每个区段(5)沿着所述测量方向(W)延伸一个给定的区段长度(LS)；

所述光学检测工具(2)被设计为用于在所述定位轨道(3)上界定一个测量窗口(6)，该测量窗口旨在被所述区段(5)穿过，并且沿着所述测量方向(W)延伸一个大于或等于每个所述区段(5)的区段长度(LS)的检测长度(LR)；

所述系统(1)的特征在于每个所述的区段(5)包括：

沿着所述测量方向(W)彼此隔开的第一界定部分(11)和第二界定部分(12)；

一个第一标识部分(13)和一个第二标识部分(14)，它们相对于所述第一界定部分(11)和所述第二界定部分(12)具有不同的光学对比度，并且沿着所述测量方向(W)分别延伸一个第一标识长度(LI1)和一个第二标识长度(LI2)；

其中，在每个区段(5)中，所述第一标识部分(13)被根据所述第一标识长度(LI1)限定在所述第一界定部分(11)和所述第二界定部分(12)之间，并且所述第二标识部分(14)通过所述第二界定部分(12)与所述第一标识部分(13)分开；

其中，每个所述区段(5)的第一标识部分(13)的第一标识长度(LI1)不同于所述连续段(4)中每个其他区段(5)的第一标识部分(13)的第一标识长度(LI1)；

其中，每个区段(5)的第二标识部分(14)的第二标识长度(LI2)不同于所述连续段(4)的每个其他区段(5)的第二标识部分(14)的第二标识长度(LI2)；

其中，每个所述区段(5)的第一标识部分(13)的第一标识长度(LI1)大于或小于所述连续段(4)中前一个区段(5)的第一标识部分(13)的第一标识长度(LI1)的一个给定行进步长(PP)。

2.根据权利要求1所述的系统(1)，其特征在于，每个所述区段(5)的第一界定部分(11)和第二界定部分(12)根据所述测量方向(W)分别延伸一个第一分界长度(LD1)和一个第二分界长度(LD2)；所述第一分界长度(LD1)、所述第二分界长度(LD2)、所述第一标识长度(LL1)和所述第二标识长度(LI2)的和等于所述区段长度(LS)。

3.根据权利要求2所述的系统(1)，其特征在于，在每个所述区段(5)中，所述第一界定部分(11)的第一分界长度(LD1)不同于所述第二界定部分(12)的第二分界长度(LD2)。

4.根据权利要求2或3所述的系统(1)，其特征在于，所述定位轨道(3)包括多个所述连续段(4)的一个序列(15)；

其中，一个所述连续段(4)的区段(5)的第一界定部分(11)的第一分界长度(LD1)不同于所述序列(15)的其他每个连续段(4)的区段(5)的第一界定部分(11)的第一分界长度(LD1)。

5.根据上述权利要求4所述的系统(1)，其特征在于，在所述序列(15)的每个连续段(4)中，每个区段(5)的第一界定部分(11)的第一分界长度(LD1)等于所述连续段(4)的其他每个区段(5)的第一界定部分(11)的第一分界长度(LD1)。