[发明专利]密封装置

说明书

密封装置(10)包括：导电构件(31)，沿密封唇(24)的周向方向与密封唇(24)成一体，且被构造成使得对导电构件(31)施加电压；和基准构件，相对于导电构件(31)以预定间隔设置。检查密封唇(24)的变形程度，使得由检测单元(50)检测与在导电构件(31)和基准构件之间的间隔的变化相关联的导电构件(31)的电感(L)的变化。

技术领域

本发明涉及一种密封装置。

背景技术

为了防止异物侵入旋转轴与壳体之间的空间中以及防止诸如润滑脂的润滑剂流出，使用密封装置用于工业产品或工业机械中的旋转构件。密封装置的一个示例是包括密封唇的密封装置，该密封唇可滑动地与旋转轴紧密接触。广泛使用油封作为这种密封装置。

发明内容

当密封唇的内周上的密封表面与旋转轴的邻接表面紧密接触时，密封表面相对于旋转轴滑动。密封表面由于摩擦而逐渐磨损。随着磨损，密封唇在接近旋转轴的方向上逐渐变形。当密封唇由于密封表面的磨损而使密封唇变形预定量时，密封表面与旋转轴之间的接触压力变得不足，使得密封性能下降，从而导致异物侵入环形空间中或导致润滑剂流出到环形空间的外部。

一般来说，这个问题可以通过定期更换密封装置来解决。即，对密封装置的更换以比密封性能下降期间短的间隔进行，以防止异物侵入旋转构件中以及防止润滑剂流出。然而，在这种方法中，密封装置的更换周期短，使得花费时间来执行密封装置的维护。另外，在预定更换时机到来之前，在密封唇发生异常变形的情况下，难以抑制异物侵入环形空间中并且难以抑制润滑剂流出到环形空间外部。

鉴于此，可以想到通过使用日本未审查专利申请公布特开2014-74469(JP 2014-74469 A)中公开的检查设备来检查密封唇的变形程度，即检查变形是否达到预定量。JP2014-74469 A中所公开的检查设备被构造成通过将油封配合到检查设备来检测是否将卡紧弹簧附接到油封的密封唇的预定位置上。当密封唇变形时，附接卡紧弹簧的位置也变化。因此，通过使用在JP 2014-74469 A中公开的检查设备，通过检测附接有卡紧弹簧的位置是否从预定位置变化了预定量，大概能够检查密封唇是否已经变形达到预定量。

但是，在通过使用JP 2014-74469 A所公开的检查设备进行检查的情况下，需要停止旋转构件的操作，拆下油封，将油封配合到检查设备。这因此降低了旋转构件的操作效率。

本发明是鉴于上述问题而完成的，其目的在于提供一种密封装置，该密封装置包括密封唇，所述密封唇具有与旋转构件的旋转轴紧密接触的密封表面，该密封装置能够检查由于密封表面的磨损而引起的密封唇的变形程度，而不降低旋转构件的操作效率。

本发明的一种形态涉及一种密封装置，所述密封装置被设置在外部构件的内周表面的径向内方。所述密封装置包括：附接部，所述附接部具有环形形状且被附接到所述外部构件；密封唇，所述密封唇具有环形形状，并且所述密封唇被固定到所述附接部，并且所述密封唇在所述密封唇的内周部分中具有密封表面，所述密封表面与被设置在所述外部构件的所述内周表面的径向内方的轴接触。所述密封装置也包括导电构件，所述导电构件沿所述密封唇的周向方向与所述密封唇成一体，所述导电构件被构造成使得对所述导电构件施加电压。所述密封装置也包括基准构件，所述基准构件被放置成使得在所述导电构件与所述基准构件之间设置预定间隔。所述密封装置也包括检测单元。所述检测单元检测所述导电构件的电感的变化，所述导电构件的所述电感的变化与在所述导电构件和所述基准构件之间的所述间隔的变化相关联。

在本发明的以上形态中，所述基准构件可以是具有导电性的构件，并且在所述构件与所述导电构件相距所述预定间隔的状态下，所述构件被设置在所述密封唇或所述附接部中。