[发明专利]一种基于二维光照的透明平板缺陷检测装置及方法

权利要求书

1.一种基于二维光照的透明平板缺陷检测装置，其特征在于，所述装置包括：检测台，

所述检测台用于承载待检测的透明平板；所述检测台固定连接有照明装置、且两个照明装置分别位于检测台的相邻两侧；

照明装置发射出的线性光源平行于透明平板，并穿过透明平板；在检测台的上方设置有图像采集装置，用于向下采集透明平板在通过照明装置二维侧向照光之后的图像。

2.根据权利要求1所述的一种基于二维光照的透明平板缺陷检测装置，其特征在于，

所述图像采集装置为一个时，具有可移动功能。

3.根据权利要求1所述的一种基于二维光照的透明平板缺陷检测装置，其特征在于，

所述图像采集装置为多个时，为固定的模式，从多个角度采集待检测透明平板的图像。

4.根据权利要求1所述的一种基于二维光照的透明平板缺陷检测装置，其特征在于，所述照明装置用于提供二维侧向光源，包括：光源支架，

在所述光源支架上设置有光源高度调节运动机构和光源强度调节电路，光源高度调节运动机构上设置有光源水平调节运动机构，光源强度调节电路连接光源。

5.根据权利要求4所述的一种基于二维光照的透明平板缺陷检测装置，其特征在于，

所述光源的亮度可调、以及光源的水平位置和垂直位置可调，用于将平行光线入射进待检测透明平板中。

6.根据权利要求5所述的一种基于二维光照的透明平板缺陷检测装置，其特征在于，

所述光源采用短波光源，利于微小缺陷的检测。

7.根据权利要求1所述的一种基于二维光照的透明平板缺陷检测装置，其特征在于，

相邻两侧的光线从透明平板相邻两侧射入，从相对的另外两侧射出。

8.一种用于权利要求1-7中任一权利要求所述的一种基于二维光照的透明平板缺陷检测装置的检测方法，其特征在于，所述检测方法包括以下步骤：

二维侧向光源中的第一入射光由光源产生，第二入射光由另一光源产生；

相邻两侧的第一入射光、第二入射光从透明平板的相邻两侧射入，从相对的另外两侧射出第一出射光和第二出射光；

根据缺陷处的折射率与透明平板的折射率不同而产生全反射或折射，导致缺陷处的光照强度与无缺陷处的光照强度不同，由于光照强度不同，在图像处理阶段根据灰度值的变化梯度来确定缺陷的存在，由机器视觉技术进行快速高效处理判别。

9.根据权利要求8所述的检测方法，其特征在于，所述机器视觉技术包括：

图像处理部分、图像的读入、图像信号的预处理、以及缺陷判断。

10.根据权利要求9所述的检测方法，其特征在于，所述缺陷判断具体为：

将预处理之后的图像数据与标准无缺陷的图像数据进行差分处理，根据差分结果与缺陷阈值进行判断，得出结论。