[发明专利]金属装配件浮高检测装置有效

专利信息
申请号: 201810205714.4 申请日: 2018-03-13
公开(公告)号: CN108458651B 公开(公告)日: 2020-06-12
发明(设计)人: 方加森;刘传汪 申请(专利权)人: 东莞华贝电子科技有限公司
主分类号: G01B7/02 分类号: G01B7/02
代理公司: 广州三环专利商标代理有限公司 44202 代理人: 张艳美;莫建林
地址: 523000 广东省东莞*** 国省代码: 广东;44
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摘要:
搜索关键词: 金属 装配 件浮高 检测 装置
【说明书】:

发明公开一种金属装配件浮高检测装置,包括机架、升降驱动机构、第一活动板、第二活动板、高度块、导电压块及测试针;所述升降驱动机构设置于所述机架上且输出端呈向下伸缩地与所述第一活动板连接,所述第二活动板上、下滑动地连接于所述第一活动板的下方;所述导电压块上、下滑动地连接于所述第二活动板的下方并与测试电路电连接,所述高度块固定于所述第二活动板的底面且位于所述第二活动板及所述导电压块之间;所述测试针设置于所述第二活动板上并与所述测试电路电连接,所述测试针可向下伸出导电压块。本发明金属装配件浮高检测装置能检测两金属装配件之间的高度差是否符合设计要求、结构简单、操作方便,提高检测效率。

技术领域

本发明涉及一种检测装置,尤其涉及一种检测两金属装配件之间的高度差是否符合设计要求的金属装配件浮高检测装置。

背景技术

现阶段,在手机及平板的生产过程中,有较多将螺丝锁到钢片上的工艺,但对这些工艺有较高的要求,如为了使产品更加美观,手感更好,螺丝头不能高出或低于钢片一定的高度,因此,在生产后通常都需要对其进行测试。在此检测过程中,无法通过肉眼检查。检测难度较大。现有的测试手段通常都是用肉眼或手指触摸去检测,然而这种方式不但工作难度及强度大,而且人为因素影响也很大,若大批量长时间进行测试,劳动强度大、检测不准确,工作效率低且效果不理想。

发明内容

本发明的目的在于提供一种能检测两金属装配件之间的高度差是否符合设计要求、结构简单、操作方便,提高检测效率的金属装配件浮高检测装置。

为了实现上述目的,本发明提供的金属装配件浮高检测装置包括机架、升降驱动机构、第一活动板、第二活动板、高度块、导电压块及测试针;所述升降驱动机构设置于所述机架上且输出端呈向下伸缩地与所述第一活动板连接,所述第二活动板上、下滑动地连接于所述第一活动板的下方;所述导电压块上、下滑动地连接于所述第二活动板的下方并与测试电路电连接,所述高度块固定于所述第二活动板的底面且位于所述第二活动板及所述导电压块之间;所述测试针设置于所述第二活动板上并与所述测试电路电连接,所述测试针可向下伸出导电压块。

与现有技术相比,由于本发明将所述导电压块上、下滑动地连接于第二活动板,且将所述高度块及所述测试针设置于所述第二活动板上,通过使所述导电压块压持金属装配件,使所述高度块压于所述导电压块上,所述测试针对应于金属装配件的浮高位置;因此,只需要预先设置好所述测试针与所述导电压块之间的高度差,并使两者与测试电路连通,当浮高位置的高度大于测试针与所述导电压块之间的高度差时,所述测试针与所述导电压块之间的电路便不能导通;当小于测试针与所述导电压块之间的高度差时,所述测试针与所述导电压块之间的电路便可导通,从而可以根据电路的通断快速检测出该两个金属装配件之间的高度差是否符合设计要求。整个结构十分简单、操作方便,免去了大量的人工操作,减少劳动力,有效提高检测效率。

较佳地,所述导电压块设有供所述测试针穿过的通孔。

较佳地,所述测试针相对所述第二活动板的向下伸出距离呈可调节地设置。这样可以检测不同浮高的金属装配件,有利于广泛应用。

较佳地,所述导电压块及所述第二活动板中的一者设有下导柱,另一者设有下导套,所述下导柱与所述下导套滑动地套接。设置于所述下导柱及所述下导套,可以在所述导电压块与所述第二活动板相对滑动时,起到引导所述导电压块的作用,防止所述导电压块移位,造成测试误差。

较佳地,所述导电压块与所述第二活动板之间设有下复位件,所述下复位件使所述导电压块远离所述第二活动板。利用所述下复位件的弹性力作用,可以在所述第二活动板上升时,使所述导电压块复位。

较佳地,所述第一活动板及所述第二活动板中的一者设有上导柱,另一者设有上导套,所述上导柱与所述上导套滑动地套接。设置于所述上导柱及所述上导套,可以在所述第一活动板与所述第二活动板相对滑动时,起到引导所述第二活动板的作用,并且可以防止所述升降驱动机构在所述高度块压于所述导电压块后继续过度下压而损坏金属装配件。

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