[发明专利]像素单元及其制作方法、显示装置有效

专利信息
申请号: 201810204696.8 申请日: 2018-03-13
公开(公告)号: CN108447871B 公开(公告)日: 2020-12-25
发明(设计)人: 周志超;夏慧;陈梦 申请(专利权)人: 深圳市华星光电半导体显示技术有限公司
主分类号: G02F1/1343 分类号: G02F1/1343
代理公司: 深圳市铭粤知识产权代理有限公司 44304 代理人: 孙伟峰;武岑飞
地址: 518132 广东省深*** 国省代码: 广东;44
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摘要:
搜索关键词: 像素 单元 及其 制作方法 显示装置
【权利要求书】:

1.一种像素单元,其特征在于,包括薄膜晶体管、以及与薄膜晶体管对应的像素电极,像素电极与薄膜晶体管的源极连接,

所述像素电极包括多个弧形的电极单元,该多个弧形的电极单元沿径向阵列分布于薄膜晶体管的周向,电极单元之间电性连接;

所述薄膜晶体管为垂直结构的薄膜晶体管,包括栅极、源极、有源层和漏极,所述源极与栅极在竖直方向的投影区不重叠,所述漏极与栅极在竖直方向的投影区不重叠;

所述源极、有源层和漏极绕设于所述栅极周向,所述源极、有源层和漏极上下叠加设置,多个所述电极单元以所述栅极为圆心径向阵列分布。

2.根据权利要求1所述的像素单元,其特征在于,所述像素单元包括扫描线、数据线、以及由所述扫描线和数据线定义的主像素区和次像素区。

3.根据权利要求2所述的像素单元,其特征在于,所述像素电极的弧形开口面向对应的薄膜晶体管的圆心,该像素电极中,一个电极单元的头部与径向相邻电极单元之间的尾部电性连接。

4.根据权利要求2所述的像素单元,其特征在于,所述像素电极的弧形开口背离对应的薄膜晶体管的圆心。

5.根据权利要求2所述的像素单元,其特征在于,

所述薄膜晶体管中,每个漏极分别包括两个弧形的第一漏极和第二漏极,所述第一漏极和第二漏极的弧形开口相对设置,所述第一漏极和第二漏极分别通过一支线电性连接于所述数据线,栅极构成所述扫描线的一部分,并位于所述第一漏极和第二漏极围成的区域内。

6.根据权利要求2所述的像素单元,其特征在于,

所述薄膜晶体管中,每个漏极分别包括四个弧形的漏极单元,漏极单元的弧形开口朝外,漏极单元之间首尾相接并围成一闭合区域,该漏极单元构成数据线的一部分,闭合区域内设置的栅极构成扫描线的一部分。

7.一种显示装置,其特征在于,包括阵列分布的权利要求1至6任一所述的像素单元。

8.权利要求1至6任一所述的像素单元的制作方法,其特征在于,包括:

(1)、在同一制程中,采用物理气相沉积方法在基体上先沉积一层金属,利用光刻胶图案作为掩模,然后曝光刻蚀形成数据线和并在主像素区和次像素区分别形成漏极,其中,

主像素区中,每个漏极分别包括两个弧形的第一漏极和第二漏极,所述第一漏极和第二漏极的弧形开口相对设置,所述第一漏极和第二漏极分别通过一支线电性连接于所述数据线,

次像素区中,每个漏极分别包括四个弧形的漏极单元,漏极单元的弧形开口朝外,漏极单元之间首尾相接并围成一闭合区域,该漏极单元构成数据线的一部分;

(2)、剥离掉光刻胶,采用溶胶凝胶、化学气相沉积或物理气相沉积的方法制作有源层,然后采用曝光刻蚀的方式在漏极上形成有源层,其中,

主像素区中,有源层包括两个弧形的结构,分别对应形成于第一漏极和第二漏极的顶面,有源层的形状与第一漏极和第二漏极的形状匹配,

次像素区中,有源层包括两个相对设置的U形的结构,分别对应形成于漏极单元和数据线的接合处;

(3)、在同一制程中,在有源层上制作源极,同时在漏极和源极之间制作扫描线和栅极,具体地,先使用物理气相沉积方法沉积一层金属,然后通过曝光和刻蚀的方式去除多余的金属,在栅极形成的区域,此处曝光利用能够形成不同光刻胶厚度的半色调掩模或者灰阶掩膜,其中,

主像素区中,扫描线穿设在第一漏极和第二漏极的缝隙之间,栅极位于第一漏极和第二漏极围成的区域中心,栅极构成扫描线的一部分,

次像素区中,扫描线穿设在有源层的缝隙之间,栅极位于漏极单元围成的区域中心,栅极构成扫描线的一部分,

在主像素区和次像素区中,源极、有源层和漏极绕设于栅极周向,源极、有源层和漏极上下叠加设置,源极与栅极在竖直方向的投影区不重叠,漏极与栅极在竖直方向的投影区不重叠;

(4)、沉积钝化层,然后在钝化层上形成像素电极图案,再采用物理气相沉积方法沉积一层金属,最后曝光刻蚀在源极表面以及源极的四周制作多条环形的像素电极,其中,

在主像素区和次像素区中,像素电极包括多个弧形的电极单元,该多个弧形的电极单元沿径向阵列分布于薄膜晶体管的周向,电极单元之间电性连接。

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