[发明专利]一种多级数字总线控制系统相位频率特性测量优化方法

权利要求书

1.一种多级数字总线控制系统相位频率特性测量优化方法，其特征在于，包括：

获取通过多级数字总线通信传输的激励信号，以及所述激励信号对应的响应信号，并计算所述激励信号与响应信号的时间错位值Δt；

利用相关分析算法，对激励信号和响应信号进行处理，得到待测控制系统在预设的角频率点w处的初步相位频率特性

根据时间错位值Δt和角频率点w，计算初步相位频率特性的误差

利用初步相位频率特性和误差计算待测控制系统的相位频率特性

计算所述激励信号与响应信号的时间错位值Δt，包括：

测控系统在第i个帧周期内的设定时刻，通过多级数字总线通信将激励信号x(i)下发至待测控制系统；所述激励信号x(i)的帧计数标志位对应的数值为i，其中，i为正整数；

获取测控系统的帧周期T_测和待测控制系统的采样周期T_采，根据所述帧周期T_测和所述采样周期T_采，计算激励信号x(i)在待测控制系统中的重复执行次数K；

待测控制系统接收到激励信号x(i)后，生成所述激励信号x(i)对应的响应信号y(i+k/K),并将所述响应信号y(i+k/K)的记录标志位设定为所述数值i，以及将所述响应信号y(i+k/K)的次数标志位的数值设定为k；然后将完成记录标志位和次数标志位设定的响应信号y(i+k/K)回传至测控系统；

测控系统在第j个帧周期接收到完成记录标志位和次数标志位设定的响应信号y(i+k/K)，识别所述响应信号y(i+k/K)的记录标志位数值i和次数标志位数值k，并调取第j个帧周期内生成的激励信号x(j)的帧计数标志位对应的数值j；其中，ii+k/Kj；

根据响应信号y(i+k/K)的记录标志位数值i、次数标志位数值k、激励信号x(j)的帧计数标志位对应的数值j、以及所述重复执行次数K，计算在第j个帧周期中的响应信号y(i+k/K)和激励信号x(j)的时序错位值n；

根据时序错位值n和测控系统的帧周期T_测，计算响应信号y(i+k/K)和激励信号x(j)的时间错位值Δt。

2.根据权利要求1所述的多级数字总线控制系统相位频率特性测量优化方法，其特征在于，所述重复执行次数K的计算公式为：

K＝T_测/T_采。

3.根据权利要求1所述的多级数字总线控制系统相位频率特性测量优化方法，其特征在于，所述时序错位值n的计算公式为：

n＝j-i-k/K。

4.根据权利要求1所述的多级数字总线控制系统相位频率特性测量优化方法，其特征在于，所述时间错位值Δt的计算公式为：

Δt＝n×T_测。

5.根据权利要求1所述的多级数字总线控制系统相位频率特性测量优化方法，其特征在于，所述初步相位频率特性的误差的计算公式为：

6.根据权利要求1所述的多级数字总线控制系统相位频率特性测量优化方法，其特征在于，所述相位频率特性的计算公式为：