[发明专利]一种等截面薄壁轴承测量装置及测量方法

说明书

本发明公开了一种等截面薄壁轴承测量装置，包括基座，通过垂直于基座的转轴转动连接于基座上方的平台，电机，及测量装置，平台与基座平行设置，电机驱动转轴转动可带动平台旋转，待测轴承放置于所述平台上时，其与平台同步转动；测量装置为设于待测轴承外围的至少一外径测量装置，外径测量装置指向待测轴承的外壁，并沿径向设置，或设于待测轴承内圈的至少一内径测量装置，内径测量装置指向待测轴承的内壁，并沿径向设置。本发明还公开了两种等截面薄壁轴承的测量方法。本发明结构简单，测量方法简化，有效地解决了薄壁轴承生产加工过程中的测量时间长问题，最大程度地减少装配工人的装配难度，以及使用过程中最大程度体现其旋转精度。

技术领域

本发明属于测量装置领域，尤其是涉及一种等截面薄壁轴承测量装置及测量方法。

背景技术

目前轴承行业中，等截面薄壁轴承被大量运用于航空、航天、医疗机械以及人工智能等领域当中，作为其关键的配套部件，要最大程度地减少装配工人的装配难度，以及使用过程中最大程度体现其旋转精度，从而取代国外进口，达到该轴承的核心技术，更稳定地提升。促使等截面薄壁轴承快速地发展，对精度的要求也越来越高。但是由于该轴承自身壁薄、直径大，容易产生各种不规则的弹性变形，造成该轴承在生产加工中测量非常困难，往往出现大量的废品。

为了达到良好的使用效果，各个客户、商家都会要求，所做的等截面薄壁轴承要以三坐标测量仪测量为准。然而，三坐标测量仪并不适合车间生产加工中的测量。从三坐标测量仪的成本来考虑，特别是大型的，精度要求较高的，其价格都高达上百万；其次，三坐标测量仪属于直接测量，必须要求在20℃恒温条件测量。而等截面薄壁轴承的侧壁薄，外径大，受温度影响非常大，必须进行恒温处理。这就造成生产加工过程中，不得不做一个轴承成品就拿去恒温环境进行测量，完成测量之后再接着加工。时间上非常浪费。光这两点，三坐标的测量就制约着薄壁轴承的发展。

传统的测量方法只适合小型、变形量不大的等截面轴承。但在大型等截面(薄壁)轴承面前，传统的测量方法误差过大。尺寸报废就高达35％。其主要表现为，套圈的变形无法解决，举例说明型号为KG250XPO的轴承，其一，它变形力大大小于测量表的测量力，其测量力的大小，决定了此轴承的误差的大小；其二，转动，要测量一圈得施加一个力使其转动，此时极易造成变形；其三，摆放，有人测试时，不转动，不同角度摆放，取其最大最小点得出平均值，每次摆放的重复性差，且人与人不同的摆放，同点的误差至少0.08mm以上；其四，减少接触面，改成点接触。让其轴承处在相对平衡，不变形的状态。薄壁轴承其壁厚本来不足4mm，还没除去倒角，在加上薄壁轴承的圆度，点接触很大程度上就接触到倒角上了，容易造成测量失准。

综上所述，目前等截面薄壁轴承随机测量还处在一个初级传统的测量阶段，不科学，不系统，准确率低。尤其是在生产加工过程中测量。

发明内容

为了克服现有技术的不足，本发明提供一种测量方法简单、可随机测量、测量精度高、成本低的等截面薄壁轴承测量装置及测量方法。

本发明解决其技术问题所采用的技术方案是：一种等截面薄壁轴承测量装置，包括基座，通过垂直于基座的转轴转动连接于基座上方的平台，连接于转轴端部的电机，及测量装置，所述平台与基座平行设置，所述电机驱动转轴转动可带动平台旋转，待测轴承放置于所述平台上时，其与平台同步转动；所述测量装置为设于待测轴承外围的至少一外径测量装置，所述外径测量装置指向待测轴承的外壁，并沿径向设置，或设于待测轴承内圈的至少一内径测量装置，所述内径测量装置指向待测轴承的内壁，并沿径向设置。

进一步的，所述外径测量装置包括连接于基座的支架和与待测轴承外壁正对设置的外径测量传感器。

进一步的，所述内径测量装置包括垂直设于平台上方的连杆和与待测轴承内壁正对设置的内径测量传感器，所述内径测量传感器连接于连杆下端，所述连杆通过一伸缩杆连接于转轴，该伸缩杆可随转轴同步转动。

进一步的，所述待测轴承与外径测量装置或内径测量装置无接触点。