[发明专利]一种阵列基板及OLED显示面板

说明书

本发明公开了一种阵列基板及OLED显示面板。该阵列基板包括显示区域、围绕显示区域的非显示区域、COF绑定区和测试区；其中，COF绑定区和测试区间隔设置于非显示区域；其中，测试区包括间隔设置的多个测试垫。通过上述方式，由于本发明的测试垫设置在阵列基板上，不需要切断测试垫与阵列基板的连接线，从而可以避免连接线被切断后出现的金属外漏的问题。进一步，当阵列基板完成测试后，绝缘材料覆盖测试垫，从而可以避免测试垫出现金属外漏的问题。

技术领域

本发明涉及OLED显示领域，特别是涉及一种阵列基板及OLED显示面板。

背景技术

随着科技的不断发展，人们对显示器件的要求越来越高。众所周知，有机发光二极管(OLED)显示器件，因其边框窄、制成重量轻、可卷曲、易于携带等诸多优势，受到了人们的广泛关注，成为时代的主流。

在OLED显示器件制备过程中，一般包括四个阶段：阵列(Array)段、发光层(EL)段、封装(TFE)段和模组(Module)段。其中，在制备过程中，对产品Array段中的阵列基板的测试，显得尤为重要，这决定着产品的良率、可靠性等诸多问题。

在传统的柔性OLED结构中，对于覆晶薄膜(Chip On Film，COF)类型的显示面板，如图1所示，一般是将对阵列基板12进行测试的测试模块11设计在阵列基板12的外侧，其中，测试模块11通过连接线13与阵列基板12连接。当完成阵列基板12的测试后，将连接线13切断。采用这种方式，不会出现测试模块11的测试垫外露的现象。但是，被切断的连接线13还是会存在金属外露，从而出现腐蚀及静电释放(Electro-Static discharge，ESD)的问题。

发明内容

本发明主要解决的技术问题是提供一种阵列基板及OLED显示面板，能够避免出现测试垫和连接线的金属外漏，进而避免由于金属外漏而出现的腐蚀及ESD问题。

为解决上述技术问题，本发明采用的一个技术方案是：提供一种阵列基板，该阵列基板包括显示区域、围绕显示区域的非显示区域、COF绑定区和测试区；其中，COF绑定区和测试区间隔设置于非显示区域；其中，测试区包括间隔设置的多个测试垫。

为解决上述技术问题，本发明采用的另一个技术方案是：提供一种OLED显示面板，该显示面板包括上述的阵列基板。

本发明的有益效果是：本发明的阵列基板及OLED显示面板包括显示区域、围绕显示区域的非显示区域、COF绑定区和测试区；其中，COF绑定区和测试区间隔设置于非显示区域；其中，测试区包括间隔设置的多个测试垫。通过上述方式，本发明的测试垫设置在阵列基板上，不需要切断测试垫与阵列基板的连接线，从而可以避免连接线被切断后出现的金属外漏的问题。进一步，当阵列基板完成测试后，绝缘材料覆盖测试垫，从而可以避免测试垫出现金属外漏的问题。

附图说明

图1是现有技术的阵列基板和测试模块的连接示意图；

图2是本发明第一实施例的阵列基板的结构示意图；

图3是图2所示阵列基板中测试区的结构示意图；

图4是图3所示测试区中A-A位置的剖面示意图；

图5是本发明第二实施例的阵列基板的结构示意图；

图6是图5所示阵列基板中测试区的结构示意图；

图7是图6所示测试区中B-B位置的剖面示意图；

图8是图6所示测试区中C-C位置的剖面示意图；

图9是本发明实施例的OLED显示面板的结构示意图。

具体实施方式