[发明专利]多通道检测系统在审

申请号：	201810187921.1	申请日：	2018-03-07
公开（公告）号：	CN110243996A	公开（公告）日：	2019-09-17
发明（设计）人：	台彦博;吴彦宏;周伯霖;方正飞	申请（专利权）人：	台达电子工业股份有限公司
主分类号：	G01N33/00	分类号：	G01N33/00;G01D21/00;G01D21/02
代理公司：	隆天知识产权代理有限公司 72003	代理人：	李昕巍;章侃铱
地址：	中国台***	国省代码：	中国台湾;71
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摘要：
搜索关键词：	放大单元信号产生单元校正单元量化多通道检测系统检测放大电连接产生单元校正信号信号通过校准样本
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【说明书】：

本发明公开一种多通道检测系统，其包含一或多个信号产生单元、一或多个检测单元、一或多个放大单元及一校正单元；信号产生单元供产生多个信号；检测单元用以检测一或多个信号产生单元提供的多个信号通过多个校准样本后产生多个量化数值；放大单元电连接于检测单元，接收并放大前述的多个量化数值；校正单元电连接于放大单元，校正单元依据经放大后的多个量化数值来校正信号产生单元，以让一或多个放大单元放大后的量化数值成为一或多个特定值。

技术领域

本发明涉及检测装置，且特别涉及应用于多通道检测系统。

背景技术

多通道检测系统主要通过信号源提供的多个信号来对分析物的特性进行检测，以提高检测准确度或提高检测速度的效果；然而，在完成多通道检测系统的组装后，组装公差或电子元件公差会让不同通道所产生的信号值产生极大的差异，造成量测基准值不同的问题发生。

发明内容

依据本发明提供一种多通道检测系统，包含一或多个信号产生单元、一检测单元、一或多个放大单元及一校正单元。信号产生单元供产生多个信号；检测单元用以检测一或多个信号产生单元提供的多个信号通过多个校准样本后产生多个量化数值；放大单元电连接于检测单元，接收并放大前述的量化数值；校正单元电连接于一或多个放大单元，并依据经放大后的量化数值来让经该一或多个放大单元放大后的量化数值为一或多个特定值。

根据本发明另提供一种多通道检测系统，包含一或多个信号产生单元、一或多个检测单元、一或多个放大单元及一校正单元；信号产生单元供产生多个信号，检测单元用以检测信号通过多个校准样本后产生多个量化数值，放大单元电连接于检测单元，用以接收并放大前述的量化数值；校正单元电连接于信号产生单元，校正单元依据放大后的量化数值来让信号产生单元产生的信号所对应的量化数值成为一或多个特定值。

附图说明

图1绘示依照本发明第一实施方式的多通道检测系统的使用示意图；

图2绘示依照本发明第一实施方式的放大单元的电路图；

图3绘示依照本发明第一实施方式的校正单元的电路方块图；

图4绘示依照本发明第一实施方式的信号产生单元的电路图；

图5绘示依照本发明第二实施方式的多通道检测系统的使用示意图；

图6绘示依照本发明第二实施方式的放大单元的电路图；

图7绘示依照本发明第三实施方式的多通道检测系统的使用示意图；以及

图8绘示依照本发明第四实施方式的多通道检测系统的使用示意图。

附图标记说明：

1…多通道检测系统

10…信号产生单元