[发明专利]基于散射中心空间滤波的低散射部件RCS测试方法及载体

说明书

本发明涉及RCS测试技术领域，尤其涉及基于散射中心空间滤波的低散射部件RCS测试方法及载体。该方法的一具体实施例包括：获取待测部组合体的RCS数据，对该RCS数据进行二维成像处理，得到所述待测部组合体的所有散射中心；依据低散射部件和载体的空间位置信息对所述所有散射中心进行过滤，得到所述低散射部件的散射中心；基于所述低散射部件的散射中心进行RCS重构，获取所述低散射部件的RCS数据；其中，所述待测组合体为将低散射部件加载到载体上形成的组合体。本发明能够消除载体回波对低散射部件的测试影响，降低低散射部件的载体的设计难度，实现提高测试精度、降低测试成本的目的。

技术领域

本发明涉及RCS测试技术领域，尤其涉及基于散射中心空间滤波的低散射部件RCS测试方法及载体。

背景技术

在对部件级目标进行RCS测试时，需要设计专门的低散射载体以模拟这些部件安装在搭载平台上的状态，从而消除这些部件的边缘、安装孔等结构散射对部件本身散射的影响。

在对低散射部件-载体组合体进行测试时，接收机中不可避免的会接收到来自载体的回波，从而对低散射部件的测试精度造成影响。根据电磁散射测量的相关理论，为提高低散射部件的测试精度，载体应当比搭载的目标RCS低至少20dB，才能保证目标RCS测试精度在±1dB以内。随着隐身技术的不断进步，对部件目标隐身性能的要求也不断提高，从而导致低散射载体设计难度不断增加。

此外，对于一般尖锥状的低散射载体，仅在头部一定的角度范围内能够保证较低的RCS，如果需要对部件进行360°方位角测试，则需要同时加工若干载体分别搭载测试部件进行测试。这样既增加测试成本，又降低测试效率。

发明内容

本发明要解决的技术问题在于，针对现有技术中的缺陷，提供一种基于散射中心空间滤波的低散射部件RCS测试方法及载体。

为了解决上述技术问题，本发明提供了一种用于低散射部件RCS测试的载体，包括：上表面与下表面；其中，所述上表面用于加载低散射部件，所述下表面为光滑曲面；所述上表面与所述下表面构成圆盘状结构，所述圆盘状结构为360°旋转对称结构。

可选地，所述圆盘状结构具有锋利边缘。

可选地，所述上表面为曲面。

可选地，所述上表面上设置有法兰接口，用于加载所述低散射部件。

本发明还提供了基于散射中心空间滤波的低散射部件RCS测试方法，包括：

获取待测部组合体的RCS数据，对该RCS数据进行二维成像处理，得到所述待测部组合体的所有散射中心；

依据低散射部件和载体的空间位置信息对所述所有散射中心进行过滤，得到所述低散射部件的散射中心；

基于所述低散射部件的散射中心进行RCS重构，获取所述低散射部件的RCS数据；

其中，所述待测组合体为将低散射部件加载到载体上形成的组合体。

可选地，所述对该RCS数据进行二维成像处理之前，还包括：对所述待测部组合体的RCS数据进行杂波抑制处理。

可选地，所述对该RCS数据进行二维成像处理之前，还包括：对所述待测部组合体的RCS数据进行标定处理。

实施本发明的，具有以下有益效果：本发明基于散射中心空间滤波技术，通过数据处理手段将载体与部件目标RCS分离，能够消除载体回波对低散射部件的测试影响，降低对部件载体低散射性能的设计指标要求，实现提高测试精度、降低测试成本的目的。

附图说明

图1是本发明实施例的用于低散射部件RCS测试的载体的示意图；

图2是本发明实施例的基于散射中心空间滤波的低散射部件RCS测试方法的流程示意图；