[发明专利]基于面型基准的转台转角误差检测方法有效

专利信息
申请号: 201810184500.3 申请日: 2018-03-07
公开(公告)号: CN108444433B 公开(公告)日: 2020-05-19
发明(设计)人: 张海涛;冯伟;乔铁柱;刘芳宇;郝晓丽 申请(专利权)人: 太原理工大学
主分类号: G01B21/22 分类号: G01B21/22
代理公司: 太原晋科知识产权代理事务所(特殊普通合伙) 14110 代理人: 任林芳
地址: 030024 *** 国省代码: 山西;14
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摘要:
搜索关键词: 基于 基准 转台 转角 误差 检测 方法
【权利要求书】:

1.一种基于面型基准的转台转角误差检测方法,包括以下步骤:

S1.取一个长方体作为检测装置,该长方体的一个表面设置成平面度不大于2微米的基准平面(1),将该检测装置放置于分度转台(7)上并进行固定基准平面(1)不与分度转台(7)的表面平行,确保该检测装置在检测的过程中不会发生移动;

S2.在分度转台(7)的初始位置,使用测量设备测量检测装置的基准平面上任意不重合的至少五个点,根据这些点的坐标值拟合平面,并计算出平面的法向量

S3.分度转台(7)转动到一定角度,使用测量设备测量检测装置的基准平面上任意不重合的至少五个点,根据这些点的坐标值拟合平面,并计算出平面的法向量

S4.将法向量(8)与法向量(9)之间的夹角与分度转台(7)转动前后名义运动角度相减,得到分度转台(7)转动前后的转角误差。

2.根据权利要求1所述的基于面型基准的转台转角误差检测方法,其特征在于:所述测量设备为三坐标测量机。

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