[发明专利]信号采样方法、装置、计算机设备及存储介质

说明书

本申请涉及一种信号采样方法、装置、计算机设备及存储介质。所述方法包括：根据信号采样区域上不同信号接收点与信号发射源的第一距离，将所述信号采样区域划分为多个子区域；获取所述子区域与所述信号发射源的第二距离，以及处于边缘位置的子区域和中心位置的子区域所接收信号的第一功率差值，根据所述第二距离和所述第一功率差值，确定信号发射功率与子区域的对应关系；获取信号发射源的实际信号发射功率，根据所述对应关系得到对应的目标子区域，通过所述目标子区域进行所述信号发射源的信号采样。采用本方法能够边缘区域的信号采集的精确度。

技术领域

本发明涉及天线近场测量技术领域，特别是涉及一种信号采样方法、装置、计算机设备及存储介质。

背景技术

常规的平面近场测试系统分为四个部分，发射模块，采样模块，接收模块和数据分析及处理模块。其中采样模块负责在一个平面的若干点上接收来自发射模块的信号，并将之传递给接收模块，由接收模块提取幅度和相位信息后传递给数据分析及处理模块，推算出天线的远场特性。

我们称采样模块进行多点采样的平面为测量面，传统方法采样模块进行信号采样时，只是在测量面上设置若干个点来接收发射模块的信号，由于测量面距离信号发射源的位置不同，接收到的信号强弱也就不同，因此距离发射源较远的位置接收到的信号较弱，从而影响采样信号的精确度。

发明内容

基于此，有必要针对平面近场系统中距离发射源较远位置接收信号弱的问题，提供一种信号采样方法、装置、计算机设备及存储介质。

一种信号采样方法，包括：

根据信号采样区域上不同信号接收点与信号发射源的第一距离，将所述信号采样区域划分为多个子区域；

获取所述子区域与所述信号发射源的第二距离，以及处于边缘位置的子区域和中心位置的子区域所接收信号的第一功率差值，根据所述第二距离和所述第一功率差值，确定信号发射功率与子区域的对应关系；

获取信号发射源的实际信号发射功率，根据所述对应关系得到对应的目标子区域，通过所述目标子区域进行所述信号发射源的信号采样。

在其中一个实施例中，所述根据信号采样区域上不同信号接收点与信号发射源的第一距离，将所述信号采样区域划分为多个子区域的步骤，包括:确定信号采样区域上信号接收点与信号发射源的第一距离所对应的距离范围，将属于同一距离范围的信号接收点划分为一个子区域；由此将信号采样区域划分为多个子区域；其中，不同距离范围之间不存在交集。

在其中一个实施例中，在将所述信号采样区域划分为多个的子区域的步骤之后，还包括：获取划分的子区域的数量；所述根据所述第二距离和所述第一功率差值，确定信号发射功率与子区域的对应关系的步骤，包括：根据所述第一功率差值和所述子区域的数量，计算两个相邻子区域的接收信号的第二功率差值；根据所述第二距离和所述第二功率差值，确定信号发射功率与子区域的对应关系。

在其中一个实施例中，所述根据所述第二距离和所述两个相邻子区域接收信号的第二功率差值，确定信号发射功率与子区域的对应关系的步骤包括：根据所述第二距离，获取距离所述信号发射源由近到远的子区域的排列顺序；获取信号源的初始信号发射功率，根据所述初始信号发射功率、所述排列顺序和所述第二功率差值，确定信号发射功率与各个子区域的对应关系。

在其中一个实施例中，所述将所述信号采样区域划分为不同的子区域的步骤，包括：将信号采样区域划分为第一子区域、第二子区域、第三子区域和第四子区域；其中，第一子区域距离信号发射源最近，第四子区域距离信号发射源最远。

一种信号采样装置，包括：

区域划分模块，用于根据信号采样区域上不同信号接收点与信号发射源的第一距离，将所述信号采样区域划分为多个子区域；