[发明专利]一种激光测距系统延时地靶测定激光衰减自控装置有效

专利信息
申请号: 201810173253.7 申请日: 2018-03-01
公开(公告)号: CN108761472B 公开(公告)日: 2022-03-15
发明(设计)人: 龙明亮;邓华荣;程志恩;汤凯;吴志波;张海峰;张忠萍 申请(专利权)人: 中国科学院上海天文台
主分类号: G01S17/08 分类号: G01S17/08;G01S7/481;G02B26/02;G02B26/08
代理公司: 北京金智普华知识产权代理有限公司 11401 代理人: 皋吉甫
地址: 200030*** 国省代码: 上海;31
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摘要:
搜索关键词: 一种 激光 测距 系统 延时 测定 衰减 自控 装置
【权利要求书】:

1.一种激光测距系统延时地靶测定激光衰减自控装置,其特征在于,该装置包括计算机终端(1),伺服电机控制终端(2),伺服电机(3),联轴器(4),镜架(5),45°反射镜(6),挡板(7);

所述的激光测距系统延时地靶测定激光衰减自控装置,激光测距系统从所述的计算机终端(1)发出地靶或目标测距指令至所述的伺服电机控制终端(2),所述的伺服电机(3),与之相连的所述的联轴器(4)与所述的镜架(5)及所述的45°反射镜(6)发射移动,挡住衰减激光或激光完全通过,挡住衰减的激光反射至所述的挡板(7);在进行地靶测量时,入射高功率激光进行阻挡衰减后,部分激光透过45°反射镜至靶标;在进行目标测距时,高功率激光无阻挡入射至测距目标;

所述45°反射镜对入射激光无偏振态要求,所述45°反射镜对激光的衰减与激光的偏振无关;所述的45°反射镜(6)镀有与对应激光波长的45°全反射膜,且所述45°反射镜(6)的厚度小于1mm,高功率激光45°入射所述45°反射镜(6)时的反射率最高,其他入射角下反射率较低,且越远离45°入射时反射率越低;

若高功率激光功率过高,单个45°反射镜不能阻挡衰减后,透过的激光仍然比较强,可插入多个反射镜;若高功率激光功率比较低,单个45°反射镜阻挡衰减后,激光比较弱,不能实现地靶测量,可以调节激光入射至45°反射镜的夹角,增强透过激光的强度。

2.根据权利要求1所述的一种激光测距系统延时地靶测定激光衰减自控装置,其特征在于,所述的计算机终端(1)、伺服电机控制终端(2)、伺服电机(3)之间通信联接,所述伺服电机(3)可以经所述计算机终端(1)进行指令控制或由伺服电机控制终端(2)手动输入控制,也可在断电下手动调节。

3.根据权利要求1所述的一种激光测距系统延时地靶测定激光衰减自控装置,其特征在于,所述的镜架(5)可以对所述45°反射镜(6)进行角度调节,改变高功率激光与45°反射镜的入射角,且所述镜架(5)可安装多片所述45°反射镜(6)。

4.根据权利要求1所述的一种激光测距系统延时地靶测定激光衰减自控装置,其特征在于,所述的镜架(5)由所述联轴器(4)与所述伺服电机(3)联接,由所述伺服电机(3)控制所述镜架(5)在高功率激光入射方向的垂直方向平动。

5.根据权利要求1所述的一种激光测距系统延时地靶测定激光衰减自控装置,其特征在于,所述的挡板(7)为高效的挡光金属吸收材料,可抗高功率激光入射,其尺寸长大于1cm,宽大于lcm,厚大于0.1cm,保证所述45°反射镜(6)反射的激光入射在所述挡板(7)。

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