[发明专利]快速复合制造的高速低噪处理中超频谱无损评估的系统和方法

权利要求书

1.一种方法，该方法包括以下步骤：

利用多个电磁脉冲(110-114)扫描复合工件(128)的表面(126)，所述多个电磁脉冲(110-114)中的每个电磁脉冲与所述复合工件(128)的所述表面上的相应位置(120-124)关联；

针对所述复合工件(128)的所述表面(126)上的每个相应位置(120-124)，进行如下操作：

在多模光纤(160)处接收对所述多个电磁脉冲(110)中的一个电磁脉冲的响应(132)，所述响应(132)包括多个波长分量(134-136)；

通过使所述响应(132)通过所述多模光纤(160)来使所述多个波长分量(134-136)相对彼此时移，从而产生波长分组脉冲(162)；

按与所述多个波长分量(134-136)对应的时间间隔(314-316)来对所述波长分组脉冲(162)进行采样，以确定与所述多个波长分量(134-136)对应的一组波长强度水平(174-176)；以及

基于所述一组波长强度水平(174-176)，来识别所述复合工件(128)的所述表面(126)上的所述相应位置(120)处的材料类型或状况(222、224、226、228)。

2.根据权利要求1所述的方法，所述方法还包括以下步骤：

生成所述复合工件的所述表面的、指示针对所述复合工件的所述表面上的每个相应位置的材料类型或状况的图像。

3.根据权利要求2所述的方法，所述方法还包括以下步骤：

基于针对每个相应位置的材料类型或状况来识别所述复合工件的所述表面上的异常，并且将所述异常的图形指示符叠加在所述复合工件的所述表面的可见图像上。

4.根据权利要求1所述的方法，所述方法还包括以下步骤：

使所述多个电磁脉冲的源的调制时段与针对每个相应位置的所述波长分组脉冲的持续时间同步。

5.根据权利要求1所述的方法，所述方法还包括以下步骤：

在使所述多个波长分量时移之前，利用衍射光栅系统来使所述多个波长分量空间发散；以及

利用透镜将所述多个波长分量中的每个波长分量聚焦到所述多模光纤中。

6.根据权利要求1所述的方法，其中，识别所述复合工件的所述表面上的所述相应位置处的材料类型或状况的步骤包括：

将所述一组波长强度水平与和预选的材料类型或状况关联的所存储波长强度水平进行比较。

7.根据权利要求1所述的方法，所述方法还包括以下步骤：

响应于针对所述复合工件的所述表面上的每个相应位置确定所述材料类型或状况排除污染物，而向所述复合工件添加新层。

8.一种频谱感测系统(100)，该频谱感测系统(100)包括：

多模光纤(160)，所述多模光纤(160)被配置成，接收对被引导至复合工件(128)的表面(126)上的位置(120)的电磁脉冲(110)的响应(132)，所述响应(132)包括多个波长分量(134-136)，并且所述多模光纤(160)被配置成，使所述多个波长分量(134-136)相对彼此时移，从而产生波长分组脉冲(162)；

检测器(170)，该检测器(170)被配置成，按与所述多个波长分量(134-136)对应的时间间隔(314-316)来对所述波长分组脉冲(162)进行采样，以确定与所述多个波长分量(134-136)对应的一组波长强度水平(174-176)；以及

处理器(182)，该处理器(182)被配置成，基于所述波长强度水平(174-176)，来识别所述复合工件(128)的所述表面(126)上的所述位置(120)处的材料类型或状况(222、224、226、228)。

9.根据权利要求8所述的系统，其中，所述处理器还被配置成，生成所述复合工件的所述表面的、指示所述复合工件的所述表面上的所述位置处的材料类型或状况的图像。