[发明专利]一种硫铟化银修饰玻碳电极用于4-NP检测的方法有效

专利信息
申请号: 201810169694.X 申请日: 2018-03-01
公开(公告)号: CN108845006B 公开(公告)日: 2022-05-13
发明(设计)人: 陈萍华;石杨明;蒋华麟;周明辉;王涛;田恩柱;王文莉 申请(专利权)人: 南昌航空大学
主分类号: G01N27/30 分类号: G01N27/30
代理公司: 南昌洪达专利事务所 36111 代理人: 张荣
地址: 330063 江*** 国省代码: 江西;36
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摘要:
搜索关键词: 一种 硫铟化银 修饰 电极 用于 np 检测 方法
【权利要求书】:

1.一种硫铟化银修饰玻碳电极用于4-NP检测的方法,其特征在于:

(1)在搅拌的情况下,将InCl3·4H2O的乙二醇溶液滴加至AgNO3的乙二醇溶液中,保证最后的摩尔比In/Ag=6.49;

(2)再在搅拌的情况下,加入硫代乙酰胺,保证摩尔比S/In=10:4;

(3)将反应液加热反应,反应温度为60-120℃,反应时间为2-4h;

(4)反应结束后,冷却,陈化,陈化时间为12-24h;

(5)将所得产品分离,清洗,干燥,得到硫铟化银;

(6)将硫铟化银用去离子水配制成悬浊液,滴涂至预先清洗干净的玻碳电极上;硫铟化银的浓度为0.5-2mg/mL;

(7)利用所制备的硫铟化银修饰的玻碳电极为工作电极,Ag/AgCl电极为参比电极,铂电极为对电极,以1M的H2SO4作为支持电解质溶液,在不同浓度的4-NP溶液中,进行微分脉冲伏安法(DPV)扫描。

2.根据权利要求1所述的一种硫铟化银修饰玻碳电极用于4-NP检测的方法,其特征在于:所述方法对4-NP的检出极限低为1.09μM,对4-NP有很好的响应。

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