[发明专利]一种降噪耳机的测量方法

说明书

本发明公开一种降噪耳机的测量方法，包括两麦克风拾音耳机和用于测试的麦克风；所述麦克风（1）用于拾取耳机左喇叭发出的音频信号，所述麦克风（2）用于拾取耳机右喇叭发出的音频信号，所述麦克风（3）位于耳机的降噪空间以外。在不同条件下，测量出降噪前后耳机的频域响应的对比，可以测出物理隔离降噪和电路降噪。可以降低对测试环境的依赖，便于在生产线中使用测试，且能提高测试效率，并获得准确的测试结果。可以在不用隔绝环境声音直接测量耳机的降噪特性，增加测量的方便性和提高测试的效率，并且得出较为准备的测试结果。

技术领域

本发明涉及声学技术领域，具体地,尤其涉及一种降噪耳机的测量方法。

背景技术

在进行降噪耳机的降噪性能测试时，通常使用的方法是在消音室搭建测试环境，用音箱播放噪声音频，并在降噪耳机内部放置拾音麦克风。测试时，先将耳机的降噪功能关闭，用声卡采集拾音麦克风的输出信号，使用信号处理算法，可以得到耳机内部拾音麦克风的噪声频域响应曲线F1。再将耳机的降噪功能打开，用声卡采集拾音麦克风的输出信号，使用信号处理算法，可以得到耳机内部拾音麦克风的噪声频域响应曲线F2。用F2/F1，即得到耳机的降噪特性曲线。

上述测试方法中， F1和F2的产生时间并不完全相同，使得F2/F1的计算结果往往不能真实反映耳机的降噪特性。举例说明如下：假设测试F1时，音箱是唯一的音源，测试系统不会收到额外的音频信号，这时F1真实反映了降噪功能关闭时耳机的噪声响应特性；但当测试F2时，测试环境中出现了额外的音频信号（记为△，该信号可能是外界干扰、实验人员发出的声音或周围物体搬动所发出的声响），这时F2的值变为F2×△，显然(F2×△)/F1不等于F2/F1，不能真实反映耳机的降噪特性。解决上述问题的通常做法是改善测试环境，即提高测试环境的消音特性、隔音特性并减小测试过程中的人为音频干扰。

显然，为准确测量耳机的降噪特性，使用常规的测试方法需要对测试环境进行较大的资金投入，用于建造消音室。另外，性能较好的消音室尺寸较大，不便于在耳机生产线上布置。

因此，亟需提供一种降噪耳机的测量方法，以解决现有技术的不足。

发明内容

为实现上述目的，本发明提供一种降噪耳机的测量方法，可以降低对测试环境的依赖，便于在生产线中使用，且能提高测试效率，并获得准确的测试结果。

本发明采用的技术方案如下：包括两麦克风拾音耳机和用于测试的麦克风；所述麦克风1用于拾取耳机左喇叭发出的音频信号，所述麦克风2用于拾取耳机右喇叭发出的音频信号，用于模拟人耳在耳机外罩中的听觉响应，所述麦克风3位于耳机的降噪空间以外。

测量方法包括以下步骤：

方法一：

1）麦克风校准：将测量装置暴露在噪声音源所处的声场中，用音箱播放噪声音频，用信号处理装置记录麦克风的频域响应曲线；即麦克风1的频域响应曲线为F1_01,麦克风2的频域响应曲线为F1_02,麦克风3的频域响应曲线为F1_03；

2）实时采样测试过程：打开耳机降噪功能，用音箱播放噪声音频，用信号处理装置记录麦克风的频域响应曲线，即麦克风1的频域响应曲线为F2_01,麦克风2的频域响应曲线为F2_02,麦克风3的频域响应曲线为F2_03；

3）当测试系统没有收到除音箱噪声音频以外的干扰时，

耳机左边的降噪特性可表示为：L= F2_01/F1_01 （1）

耳机右边的降噪特性可以表示为R= F2_02/F1_02 （2）

为叙述方便，假定关闭耳机降噪功能时，麦克风1和麦克风3的响应比例为：k1=F1_01/F1_03 （3）