[发明专利]一种应用光学编码进行长度测量的方法

权利要求书

1.一种采用光学编码条纹的绝对位移量的测量方法，可适用于长度测量，可应用于体检仪、身高计、婴儿秤、母婴秤、电子卷尺等长度/高度的测量。

2.其特征在于，采用三条光学编码条纹和对应的三对光电发射/接收器件。

3.光电接收器件接收到的信号还需要利用施密特触发器构成的电路进行波形整形。

4.如权利要求1所述的方法，其特征在于，所述预设标准为单个编码条纹长度大于等于入射光斑的直径。

5.如权利要求1所述的方法，其特征在于，所述预设标准为编码条纹宽度为：W_102a =W_102b= 2*W_102c ，且光学编码条纹最小条纹宽度应大于等于入射光斑的直径。

6.（W_102a 、W_102b、W_102c分别指光学编码条纹中的三组条纹的宽度）。

7.如权利要求1所述的方法，其特征在于，所述预设标准为测量精度等同于最小条纹宽度的一半。

8.如权利要求1所述的方法，其特征在于，所述对于光学编码条纹的涂层厚度（或蚀刻深度）需满足对其入射光有一定吸收。

9.如权利要求1所述的方法，其特征在于，所述光学编码条纹的颜色在可见光区域内，其颜色和入射光的颜色应有较大差异；在红外波段，条纹与空白背景相比，对于入射光的波长的吸收应有较大的差异（可以是更大的吸收率，或者是更大的反射率）；

如权利要求1所述的方法，其特征在于，所述光学编码条纹加工工艺可以采用喷涂、喷绘、丝网印刷、不干胶贴纸、转印或蚀刻工艺形成。

10.如权利要求1所述的方法，其特征在于，所述光学编码条纹的材质可以是涂料、油漆、纸质、塑料、玻璃、金属的至少一种。

11.如权利要求1所述的方法，其特征在于，所述光学编码条纹既可以是实心的，也可以是若干细小斑点和条纹组成，且小斑点（或细小条纹）的直径（或宽度）远小于入射光斑的直径。

12.如权利要求1所述的方法，其特征在于，所述光学编码条纹的附着材质可以是塑料、金属、玻璃、木材、陶瓷，纸板中的至少一种，但必须表面平整，光学编码条纹易于附着牢靠。

13.如权利要求1所述的方法，其特征在于，所述光电发射/接收器件可以是一体的红外收发对管、可见光的收发对管、分立的光源发射装置和光电检测装置（如硅光二极管）中的至少一种。

14.如权利要求1所述的方法，其特征在于，所述光电发射/接收器件可以在光学编码条纹的同侧（反射式测量），也可以在对侧（透射式测量）。

15.如权利要求1所述的方法，其特征在于，所述光电发射/接收器件和光学编码条纹间的相对移动速度最大速率受限于光电接收器件的响应速度和后级信号处理电路的响应速度及MCU的处理速度。

16.如权利要求1所述的方法，其特征在于，所述对光电接收器件产生的电信号，需采用施密特触发器电路进行整形，使得条纹边缘触发更敏感，减少抖动造成的误触发，提高检测灵敏度和精度。