[发明专利]一种结合SAR成像和ISAR成像的雷达成像方法

说明书

一种结合SAR成像和ISAR成像的雷达成像方法，包括：成像准备，确定各次SAR成像和ISAR成像的相关参数；成像测试，按照确定的参数进行测试；结合成像，以各次SAR成像测试结果为基础，结合SAR成像和ISAR成像，获取满足要求的雷达成像结果。通过该方法，综合SAR成像便于进行目标‑背景分离、ISAR成像孔径角较大的优势，使得在一般外场条件下可以获取目标高分辨力雷达图像，并可以在避免固定位置的干扰目标对成像结果造成影响，同时获得高于普通SAR成像的分辨率。

技术领域

本发明涉及一种雷达成像方法，具体的，涉及一种结合SAR成像和ISAR成像的雷达成像方法。

背景技术

雷达成像可以得到目标散射源的分布，在雷达波隐身技术研究中得到广泛应用。常用的雷达成像方法主要有SAR成像和ISAR成像两种方法，SAR成像通过按一定路径运动（一般是直线运动）的雷达对固定目标区域进行照射，通过雷达波形设计和相干处理获得目标区域图像；ISAR成像则是雷达固定不动，在隐身技术研究中，一般是在目标转台的配合下对被测目标进行成像测量，被测目标按一定的转速或间隔转过一定角度，在此期间，雷达对目标进行测试，同样是通过波形设计和相干处理获得目标区域图像。

对于隐身技术研究而言，为获得清晰和准确的散射源定位，成像的分辨力指标非常重要。无论是对于SAR成像还是ISAR成像，成像结果的横向（垂直于雷达照射方向）和纵向分辨力（沿雷达照射方向）分别取决于孔径角和雷达带宽。现代成像雷达一般采用脉冲压缩技术获取较宽的雷达带宽，易于获得较高的纵向分辨力。在横向分辨力方面，SAR或ISAR方法均取决于等效的孔径角，一般而言，在有目标转台配合的条件下，ISAR方法的等效孔径角大于SAR方法的等效孔径角，即ISAR成像的横向分辨力优于SAR成像。

虽然ISAR成像方法的分辨力优于SAR成像方法，但ISAR成像对于配合条件的要求较高，一方面需要目标转台和测试设备的同步，另一方面，受限于ISAR成像的原理，要求目标所处的背景不能有较高的干扰目标和杂散，否则，这些不随转台转动的目标将折叠至目标像的中心，且这些杂散目标与真实目标相重合，难以分离处理，造成目标图像的严重污染。因此，ISAR成像一般在背景电平很低，有良好吸波材料敷设且有目标转台配合的内场场地中使用。而SAR成像不存在这样的问题，不需目标转台配合，且目标区中所有的目标均可反映，对目标所在背景环境仅需进行简单处理即可分离目标和背景，可以在条件一般的外场环境下进行目标成像。但受限于目标尺寸、雷达天线尺寸、目标距离以及雷达运动路径等因素，一般外场条件下，SAR成像的等效孔径角度一般均小于ISAR成像，难以获得较高的横向分辨力。

因此，如何在一般外场的条件下获得真实目标的高分辨力的目标雷达图像，为目标雷达波隐身技术研究提供必要的研究基础，就成为亟待解决的技术问题。

发明内容

本发明的目的在于提出了一种结合SAR成像和ISAR成像的雷达成像方法。

为达此目的，本发明采用以下技术方案：

一种结合SAR成像和ISAR成像的雷达成像方法，包括以下步骤：

步骤1：成像准备，确定各次SAR成像和ISAR成像的相关参数；

步骤2：成像测试，按照步骤1中确定的参数进行测试；

步骤3：结合成像，以步骤2中的各次SAR成像测试结果为基础，结合SAR成像和ISAR成像，获取满足要求的雷达成像结果。

具体地，步骤1的成像准备，包括：根据成像要求，确定成像测试所需的总的成像孔径角，根据目标、测量场地及测量设备情况确定单次SAR成像对应的孔径角，结合总的成像孔径角确定需要进行SAR成像的次数，并确定各次SAR成像时目标相对于成像雷达天线扫描路径的方位角度和对应的SAR成像雷达天线扫描路径的具体位置。