[发明专利]一种频率器件性能评估的方法及装置

权利要求书

1.一种频率器件性能评估的方法，包括：

在设置的测试时间段内通过对频率器件的频偏进行采集，得到所述频率器件的采样频偏数据集和采样时间点数据集；

利用所得到的采样频偏数据集和采样时间点数据集，计算出所述频率器件的包含相位保持信息和/或时间保持信息的保持性能信息；

根据所计算出的包含相位保持信息和/或时间保持信息的保持性能信息，用概率密度的方法对所述频率器件的性能进行评估；

其中，计算相位保持信息包括：计算所述采样频偏数据集中每一个采样频偏数据的相位保持能力；根据全部采样频偏数据的相位保持能力，计算所述频率器件的相位保持信息；

其中，计算时间保持信息包括：计算所述采样频偏数据集中每一个采样频偏数据的时间保持能力；根据全部采样频偏数据的时间保持能力，计算所述频率器件的时间保持信息。

2.根据权利要求1所述的方法，当保持性能信息为相位保持信息时，所述利用所得到的采样频偏数据集和采样时间点数据集，计算出所述频率器件的保持性能信息包括：

根据所述采样频偏数据集中的第N个采样频偏数据及随后K+1个采样频偏数据和采样时间点数据集中的第N个采样时间数据及随后K+1个采样时间点数据，得到所述第N个采样频偏数据的相位保持能力；

利用所得到的所述每个采样频偏数据的相位保持能力，计算所述频率器件的相位保持信息；

其中，所述N和K均为正整数，其K为预设时间内的采样个数。

3.根据权利要求1所述的方法，当保持性能信息为时间保持信息时，所述利用所得到的采样频偏数据集和采样时间点数据集，计算出所述频率器件的保持性能信息包括：

根据所述采样频偏数据集中的第N个采样频偏数据及随后x+1个采样频偏数据和采样时间点数据集中的第N个采样时间数据及随后x+1个采样时间点数据，得到所述第N个采样频偏数据的时间保持能力；

利用所得到的所述每个采样频偏数据的时间保持能力，计算所述频率器件的时间保持信息；

其中，所述N和x均为正整数，其x为累积相位波动达到预定值时的采样个数。

4.根据权利要求1所述的方法，当保持性能信息为相位保持信息和时间保持信息时，所述利用所得到的采样频偏数据集和采样时间点数据集，计算出所述频率器件的保持性能信息包括：

根据所述采样频偏数据集中的第N个采样频偏数据及随后K+1个采样频偏数据和采样时间点数据集中的第N个采样时间数据及随后K+1个采样时间点数据，得到所述第N个采样频偏数据的相位保持能力以及根据所述采样频偏数据集中的第N个采样频偏数据及随后x+1个采样频偏数据和采样时间点数据集中的第N个采样时间数据及随后x+1个采样时间点数据，得到所述第N个采样频偏数据的时间保持能力；

利用所得到的所述每个采样频偏数据的相位保持能力，计算所述频率器件的相位保持信息，以及利用所得到的所述每个采样频偏数据的时间保持能力，计算所述频率器件的时间保持信息；

其中，所述N和K均为正整数，其K为预设时间内的采样个数，其x为累积相位波动达到预定值时的采样个数。

5.一种频率器件性能评估的装置，包括：

采集模块，用于在设置的测试时间段内通过对频率器件的频偏进行采集，得到所述频率器件的采样频偏数据集和采样时间点数据集；

计算模块，用于利用所得到的采样频偏数据集和采样时间点数据集，计算出所述频率器件的包含相位保持信息和/或时间保持信息的保持性能信息；

评估模块，用于根据所计算出的包含相位保持信息和/或时间保持信息的保持性能信息，用概率密度的方法对所述频率器件的性能进行评估；

其中，计算相位保持信息包括：计算所述采样频偏数据集中每一个采样频偏数据的相位保持能力；根据全部采样频偏数据的相位保持能力，计算所述频率器件的相位保持信息；

其中，计算时间保持信息包括：计算所述采样频偏数据集中每一个采样频偏数据的时间保持能力；根据全部采样频偏数据的时间保持能力，计算所述频率器件的时间保持信息。