[发明专利]测试图案的制作方法、测试图案、印刷装置、存储介质

说明书

本发明提供能够对新的组合的喷落偏差或至少三个喷落偏差进行测量的测试图案的制作方法、测试图案、印刷装置、存储介质。该测试图案的制作方法，以使测试图案包括用于对由于如下情况而产生的喷落偏差进行测量的部位中至少三个的方式制作测试图案，即，第一及第二打印头的头偏差；第一及第二打印芯片的芯片偏差；主扫描去程及返程的往返偏差；第一及第二喷嘴列的列偏差；以主扫描方向为中心的旋转方向的第一打印头的位置偏差；以与主扫描方向以及同主扫描方向交叉的方向正交的方向为中心的旋转方向的第一打印头的位置偏差，所述测试图案的与所述印刷装置对应的副扫描方向的长度在所述头的副扫描方向的长度以下，所述至少三个部位沿副扫描方向排列。

技术领域

本公开内容涉及一种印刷的测试图案。

背景技术

专利文献1公开了对由记录头的倾斜、或记录头的去程与返程而产生的偏差进行检测的技术。在此所说的倾斜是指由以与主扫描方向以及副扫描方向正交的方向为中心的旋转而产生的位置偏差。

印刷的喷落偏差还会因上述两种情况以外的情况而产生，因此仍有改进的余地。鉴于此，本公开内容的课题在于，制作能够对新的组合的喷落偏差进行测量的测试图案或者制作能够对至少三种的喷落偏差进行测量的测试图案。

专利文献1：日本特开2007-15269号公报。

发明内容

本公开内容的一个方式是一种测试图案的制作方法，该测试图案的制作方法是使用如下的印刷装置来制作测试图案的方法，所述印刷装置具备具有喷射第一油墨色的油墨的第一打印头和喷射第二油墨色的油墨的第二打印头的头，在所述第一打印头上设置有第一打印芯片以及第二打印芯片，在所述第一打印芯片上设置有构成沿与主扫描方向交叉的交叉方向排列的第一喷嘴列和与所述第一喷嘴列相比位于所述主扫描方向的预定侧的第二喷嘴列的多个喷嘴，所述测试图案包括用于对所述主扫描方向上的喷落偏差进行测量的多个格线，其中，以使所述测试图案包括以下部位中的至少三个部位的方式来制作所述测试图案，所述部位为，用于对由于所述第一打印头以及所述第二打印头的头偏差而产生的喷落偏差进行测量的部位；用于对由于所述第一打印芯片以及所述第二打印芯片的芯片偏差而产生的喷落偏差进行测量的部位；用于对由于主扫描的去程以及返程的往返偏差而产生的喷落偏差进行测量的部位；用于对由于所述第一喷嘴列以及所述第二喷嘴列的列偏差而产生的喷落偏差进行测量的部位；用于对由于以所述主扫描方向为中心的旋转方向上的所述第一打印头的位置偏差而产生的喷落偏差进行测量的部位；以及用于对由于以与所述主扫描方向以及所述交叉方向正交的正交方向为中心的旋转方向上的所述第一打印头的位置偏差而产生的喷落偏差进行测量的部位，所述测试图案的与所述印刷装置对应的副扫描方向的长度在所述头的副扫描方向的长度以下，所述至少三个部位沿副扫描方向排列。根据该方式，能够制作可对上述六种偏差中的至少三种进行测量的测试图案。

在上述方式中，可以采用如下的方式，即，所述第二打印头具备第三打印芯片，在所述第三打印芯片上设置有构成沿所述交叉方向排列的第三喷嘴列和与所述第三喷嘴列相比位于所述主扫描方向的所述预定侧的第四喷嘴列的多个喷嘴，能够由所述第一喷嘴列形成点的所述交叉方向的范围与能够由所述第三喷嘴列形成点的所述交叉方向的范围至少部分重复，通过相同朝向的主扫描并使用所述第一喷嘴列以及所述第三喷嘴列，来制作用于对由于所述第一打印头以及所述第二打印头的头偏差而产生的喷落偏差进行测量的部位。根据该方式，能够通过一次的主扫描来制作用于对第一打印头以及第二打印头的偏差进行测量的部位。

在上述方式中，可以采用如下的方式，即，在所述第二打印芯片上设置有构成所述第一喷嘴列以及第二喷嘴列的多个喷嘴，通过相同朝向的主扫描并使用所述第一打印芯片以及所述第二打印芯片所含的所述第一喷嘴列的在所述交叉方向上能够形成点的范围发生重复的范围，来制作用于对由于所述第一打印芯片以及所述第二打印芯片的芯片偏差而产生的喷落偏差进行测量的部位。根据该方式，能够通过一次的主扫描来制作用于对第一打印芯片以及第二打印芯片的偏差进行测量的部位。