[发明专利]恒温控制方法、加热装置及存储介质

说明书

本发明公开一种恒温控制方法，通过计算发热元件在目标温度T_t下的电阻值R_A，并检测发热元件在加热状态下的电阻值R_B，以根据R_B与R_A的大小比较结果控制发热元件加热或暂停加热，将发热元件的温度维持在所述目标温度T_t。本发明还公开一种加热装置及存储介质。本发明提高了恒温控制的准确度和适用性。

技术领域

本发明涉及温控技术领域，尤其涉及一种恒温控制方法、加热装置及存储介质。

背景技术

现有温度控制领域，主要有两种方式实现温控效果。

一种是控制发热器的通电时间，达到控制温度；该方式采用的电路简单，但温控准确度较差，无法满足恒温控制需求。

另一种是在发热器上增设温度传感器，或者在终端设备上增设温度传感器，以温度传感器的反馈数据控制发热器的开关时间，达到恒温目的；但该种方式必须依赖温度传感器，在适用安装时具有一定的局限性，适用性较差。

发明内容

本发明的主要目的在于提供一种恒温控制方法，旨在提高恒温控制的准确度和适用性。

为实现上述目的，本发明提出的恒温控制方法，包括以下步骤：

计算发热元件在目标温度T_t下的电阻值R_A；

检测发热元件在加热状态下的电阻值R_B；

根据R_B与R_A的大小比较结果控制发热元件进行加热，以将发热元件的温度维持在所述目标温度T_t。

进一步地，所述根据R_B与R_A的大小比较结果控制发热元件进行加热，以将发热元件的温度维持在所述目标温度T_t的步骤，包括：

比较R_B与R_A的大小；

当R_B＜R_A时，控制发热元件加热第一预设时长，返回检测发热元件在加热状态下的电阻值R_B的步骤；

当R_B＞＝R_A时，控制发热元件暂停加热第二预设时长，返回检测发热元件在加热状态下的电阻值R_B的步骤；

其中，所述第一预设时长＞所述第二预设时长。

进一步地，所述计算发热元件在目标温度下T_t的电阻值R_A的步骤，包括：

获取当前环境温度T_e；

获取发热元件在当前环境温度T_e下的电阻值R_FH；

基于发热元件的温度系数及电阻值R_FH计算发热元件在目标温度T_t下的电阻值R_A。

进一步地，所述获取当前环境温度T_e的步骤，包括：

基于温度检测电路计算热敏电阻的当前阻值，并基于所述热敏电阻的温度系数表获取与所述当前阻值对应的当前环境温度T_e；或，

基于温度传感器的反馈数据获取当前环境温度T_e；或，

基于云端的实时环境参数获取当前环境温度T_e；或，