[发明专利]资源受限设备测试系统和方法有效
申请号: | 201810135522.0 | 申请日: | 2018-02-09 |
公开(公告)号: | CN108536579B | 公开(公告)日: | 2021-04-16 |
发明(设计)人: | S·杜塔;D·钱达;S·曼达尔 | 申请(专利权)人: | 维布络有限公司 |
主分类号: | G06F11/36 | 分类号: | G06F11/36 |
代理公司: | 上海思微知识产权代理事务所(普通合伙) 31237 | 代理人: | 智云 |
地址: | 印度卡纳塔*** | 国省代码: | 暂无信息 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | |||
搜索关键词: | 资源 受限 设备 测试 系统 方法 | ||
本发明总体涉及设备测试,尤其涉及一种资源受限设备测试系统和方法。在一种实施方式中,提供一种资源受限设备测试方法,该方法包括:确定用于测试所述资源受限设备的测试用例;以及访问与所述测试用例对应的测试脚本。该测试脚本包括相互独立的一组原始可执行文件。所述方法还包括:将所述一组原始可执行文件当中的每一个发送至所述资源受限设备以供执行;以及接收与所述一组原始可执行文件当中的每一个的执行相对应的结果。
技术领域
本发明总体涉及设备测试,尤其涉及一种资源受限设备的测试系统和方法。
背景技术
过去数年中,计算设备的物理尺寸急剧下降。尺寸规格为微型至超微型且具有有限计算能力和较低功耗要求的微型设备已经变得无处不在,并且对机器帮助人类的方式进行着持续的革新。这些设备正被广泛地应用于例如零售、交通运输、国防及医疗保健等各行各业。由于此类微型设备的性质及其目标用途,其上运行的应用程序正在变得越来越复杂而且对质量的要求也越来越高。
现有应用程序开发过程指导标准规定了保证应用程序质量和稳健性所需的合适的测试工作量。然而,在许多情况下,针对微型设备的应用程序的开发周期较短,全面测试将对上市时间产生不利影响。此外,现有测试方法需要目标设备具有大量的计算资源(如内存、处理功能等)。可以理解的是,此类微型设备的计算资源量可能极为有限,因此这些设备内的应用程序或组件的测试可能会受到限制。例如,微型设备的内存甚至可能不足以完整地设置某些现有测试方法所需的设备代理程序(DA)。此外,在测试执行过程中,资源的可用状况可能发生动态变化,并从而可能导致此类微型设备内的测试进程终止。简而言之,微型设备可用资源的有限性和动态性使得现有测试方法不适宜于微型设备的测试,而且测试效率较低。
发明内容
在一种实施方式中,公开一种资源受限设备测试方法。在一个实施例中,该方法包括确定用于测试所述资源受限设备的测试用例。该方法还包括访问与所述测试用例对应的测试脚本。该测试脚本包括相互独立的一组原始可执行文件。该方法还包括将所述一组原始可执行文件当中的每一个发送至所述资源受限设备以供执行。该方法还包括接收与所述一组原始可执行文件当中的每一个的执行相对应的结果。
在一种实施方式中,公开一种资源受限设备测试系统。在一个实施例中,该系统包括:至少一个处理器;以及与该至少一个处理器以可通信方式联结的存储器。该存储器存有处理器可执行指令,该指令在执行时使得所述处理器确定用于测试所述资源受限设备的测试用例。所述处理器可执行指令在执行时还使得所述处理器访问与所述测试用例对应的测试脚本。该测试脚本包括相互独立的一组原始可执行文件。所述处理器可执行指令在执行时还使得所述处理器将所述一组原始可执行文件当中的每一个发送至所述资源受限设备以供执行。所述处理器可执行指令在执行时还使得所述处理器接收与所述一组原始可执行文件当中的每一个的执行相对应的结果。
在一种实施方式中,公开一种非暂时性计算机可读存储介质,其上存有一组用于测试资源受限设备的计算机可执行指令。在一个实施例中,所存指令在由处理器执行时使得该处理器执行操作,该操作包括确定用于测试所述资源受限设备的测试用例。该操作还包括访问与所述测试用例对应的测试脚本。该测试脚本包括相互独立的一组原始可执行文件。所述操作还包括将所述一组原始可执行文件当中的每一个发送至所述资源受限设备以供执行。所述操作还包括接收与所述一组原始可执行文件当中的每一的执行相对应的结果。
需要理解的是,以上概略描述与以下详细描述均仅在于例示和说明,而不在于限制所要求保护的发明。
附图说明
所附各图并入本发明之内并构成本发明的一部分,用于对例示实施方式进行描述,并与说明书一道阐明所公开的原理。
图1为用于设备测试的现有系统框图。
图2为用于设备测试的另一现有系统框图。
图3为根据本发明一些实施方式的用于资源受限设备测试的例示系统框图。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于维布络有限公司,未经维布络有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201810135522.0/2.html,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:金具放电电压试验系统和方法
- 下一篇:用于多个进程的多摄像头同时成像